Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію

У зразках Cz−Si n-типу, легованих ізовалентною домішкою германію, виявлено суттєве
 зниження ефективності утворення термодонорів у процесі термовідпалів, а також
 встановлено підвищення радіаційної стійкості приблизно на порядок при опроміненні
 nSi ⟨Ge⟩ швидкими нейтронами р...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Доповіді НАН України
Datum:2016
ISSN:1025-6415
Hauptverfasser: Гайдар, Г.П., Баранський, П.І.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainisch
Veröffentlicht: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125716
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію / Г.П. Гайдар, П.І. Баранський // Доповіді Національної академії наук України. — 2016. — № 7. — С. 62-69. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:У зразках Cz−Si n-типу, легованих ізовалентною домішкою германію, виявлено суттєве
 зниження ефективності утворення термодонорів у процесі термовідпалів, а також
 встановлено підвищення радіаційної стійкості приблизно на порядок при опроміненні
 nSi ⟨Ge⟩ швидкими нейтронами реактора. В образцах Cz−Si n-типа, легированных изовалентной примесью германия, выявлено существенное снижение эффективности образования термодоноров в процессе термоотжигов, а также установлено повышение радиационной стойкости приблизительно на порядок при облучении n-Si ⟨Ge⟩ быстрыми нейтронами реактора. In n-type Cz−Si samples doped by the germanium isovalent impurity, a significant decrease in the
 efficiency of formation of thermodonors in the thermoannealing process is found, as well as an
 increase of the radiation hardness by order of magnitude under the irradiation of n-Si ⟨Ge⟩ by
 fast-pile neutrons is established.
ISSN:1025-6415