Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію

У зразках Cz−Si n-типу, легованих ізовалентною домішкою германію, виявлено суттєве зниження ефективності утворення термодонорів у процесі термовідпалів, а також встановлено підвищення радіаційної стійкості приблизно на порядок при опроміненні nSi ⟨Ge⟩ швидкими нейтронами реактора. В образцах Cz−S...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Доповіді НАН України
Datum:2016
Hauptverfasser: Гайдар, Г.П., Баранський, П.І.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2016
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125716
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію / Г.П. Гайдар, П.І. Баранський // Доповіді Національної академії наук України. — 2016. — № 7. — С. 62-69. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-125716
record_format dspace
spelling Гайдар, Г.П.
Баранський, П.І.
2017-11-02T13:22:20Z
2017-11-02T13:22:20Z
2016
Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію / Г.П. Гайдар, П.І. Баранський // Доповіді Національної академії наук України. — 2016. — № 7. — С. 62-69. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.
1025-6415
DOI: doi.org/10.15407/dopovidi2016.07.062
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125716
621.315.592
У зразках Cz−Si n-типу, легованих ізовалентною домішкою германію, виявлено суттєве зниження ефективності утворення термодонорів у процесі термовідпалів, а також встановлено підвищення радіаційної стійкості приблизно на порядок при опроміненні nSi ⟨Ge⟩ швидкими нейтронами реактора.
В образцах Cz−Si n-типа, легированных изовалентной примесью германия, выявлено существенное снижение эффективности образования термодоноров в процессе термоотжигов, а также установлено повышение радиационной стойкости приблизительно на порядок при облучении n-Si ⟨Ge⟩ быстрыми нейтронами реактора.
In n-type Cz−Si samples doped by the germanium isovalent impurity, a significant decrease in the efficiency of formation of thermodonors in the thermoannealing process is found, as well as an increase of the radiation hardness by order of magnitude under the irradiation of n-Si ⟨Ge⟩ by fast-pile neutrons is established.
uk
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
Доповіді НАН України
Фізика
Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
Влияние изовалентной примеси Ge и термоотжигов на электрофизические свойства кристаллов кремния
Influence of Ge isovalent impurity and thermoannealings on the electrophysical properties of silicon crystals
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
spellingShingle Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
Гайдар, Г.П.
Баранський, П.І.
Фізика
title_short Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
title_full Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
title_fullStr Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
title_full_unstemmed Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
title_sort вплив ізовалентної домішки ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію
author Гайдар, Г.П.
Баранський, П.І.
author_facet Гайдар, Г.П.
Баранський, П.І.
topic Фізика
topic_facet Фізика
publishDate 2016
language Ukrainian
container_title Доповіді НАН України
publisher Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
format Article
title_alt Влияние изовалентной примеси Ge и термоотжигов на электрофизические свойства кристаллов кремния
Influence of Ge isovalent impurity and thermoannealings on the electrophysical properties of silicon crystals
description У зразках Cz−Si n-типу, легованих ізовалентною домішкою германію, виявлено суттєве зниження ефективності утворення термодонорів у процесі термовідпалів, а також встановлено підвищення радіаційної стійкості приблизно на порядок при опроміненні nSi ⟨Ge⟩ швидкими нейтронами реактора. В образцах Cz−Si n-типа, легированных изовалентной примесью германия, выявлено существенное снижение эффективности образования термодоноров в процессе термоотжигов, а также установлено повышение радиационной стойкости приблизительно на порядок при облучении n-Si ⟨Ge⟩ быстрыми нейтронами реактора. In n-type Cz−Si samples doped by the germanium isovalent impurity, a significant decrease in the efficiency of formation of thermodonors in the thermoannealing process is found, as well as an increase of the radiation hardness by order of magnitude under the irradiation of n-Si ⟨Ge⟩ by fast-pile neutrons is established.
issn 1025-6415
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125716
citation_txt Вплив ізовалентної домішки Ge і термовідпалів на електрофізичні властивості кристалів кремнію / Г.П. Гайдар, П.І. Баранський // Доповіді Національної академії наук України. — 2016. — № 7. — С. 62-69. — Бібліогр.: 15 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT gaidargp vplivízovalentnoídomíškigeítermovídpalívnaelektrofízičnívlastivostíkristalívkremníû
AT baransʹkiipí vplivízovalentnoídomíškigeítermovídpalívnaelektrofízičnívlastivostíkristalívkremníû
AT gaidargp vliânieizovalentnoiprimesigeitermootžigovnaélektrofizičeskiesvoistvakristallovkremniâ
AT baransʹkiipí vliânieizovalentnoiprimesigeitermootžigovnaélektrofizičeskiesvoistvakristallovkremniâ
AT gaidargp influenceofgeisovalentimpurityandthermoannealingsontheelectrophysicalpropertiesofsiliconcrystals
AT baransʹkiipí influenceofgeisovalentimpurityandthermoannealingsontheelectrophysicalpropertiesofsiliconcrystals
first_indexed 2025-12-01T05:14:03Z
last_indexed 2025-12-01T05:14:03Z
_version_ 1850859404287541249