Влияние поляризационного взаимодействия на спектроскопию экситонов в квазинульмерных системах
Проведен обзор результатов теоретических и экспериментальных исследований по спектроскопии экситонных состояний в квазинульмерных полупроводниковых системах. С помощью новых оптического и электрооптического методов показана возможность диагностики ряда фундаментальных параметров квазинульмерных стру...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Успехи физики металлов |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2005
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125812 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Влияние поляризационного взаимодействия на спектроскопию экситонов в квазинульмерных системах / А.П. Шпак, С.И. Покутний // Успехи физики металлов. — 2005. — Т. 6, № 2. — С. 105-134. — Бібліогр.: 92 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Проведен обзор результатов теоретических и экспериментальных исследований по спектроскопии экситонных состояний в квазинульмерных полупроводниковых системах. С помощью новых оптического и электрооптического методов показана возможность диагностики ряда фундаментальных параметров квазинульмерных структур.
Проведено огляд результатів теоретичних та експериментальних досліджень із спектроскопії екситонних станів у квазинульвимірних системах. За допомогою нових оптичної й електрооптичної метод показано можливість діягностики низки фундаментальних параметрів квазинульвимірних структур.
A given article reviews the results of theoretical and experimental investigations in spectroscopy of exciton states in quasi-zero-dimensional semiconductor structures. The opportunity to diagnose some basic parameters of quasi-zero-dimensional structures by new optical and electrooptic methods is demonstrated.
|
|---|---|
| ISSN: | 1608-1021 |