Влияние поляризационного взаимодействия на спектроскопию экситонов в квазинульмерных системах

Проведен обзор результатов теоретических и экспериментальных исследований по спектроскопии экситонных состояний в квазинульмерных полупроводниковых системах. С помощью новых оптического и электрооптического методов показана возможность диагностики ряда фундаментальных параметров квазинульмерных стру...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Успехи физики металлов
Datum:2005
Hauptverfasser: Шпак, А.П., Покутний, С.И.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2005
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125812
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Влияние поляризационного взаимодействия на спектроскопию экситонов в квазинульмерных системах / А.П. Шпак, С.И. Покутний // Успехи физики металлов. — 2005. — Т. 6, № 2. — С. 105-134. — Бібліогр.: 92 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Проведен обзор результатов теоретических и экспериментальных исследований по спектроскопии экситонных состояний в квазинульмерных полупроводниковых системах. С помощью новых оптического и электрооптического методов показана возможность диагностики ряда фундаментальных параметров квазинульмерных структур. Проведено огляд результатів теоретичних та експериментальних досліджень із спектроскопії екситонних станів у квазинульвимірних системах. За допомогою нових оптичної й електрооптичної метод показано можливість діягностики низки фундаментальних параметрів квазинульвимірних структур. A given article reviews the results of theoretical and experimental investigations in spectroscopy of exciton states in quasi-zero-dimensional semiconductor structures. The opportunity to diagnose some basic parameters of quasi-zero-dimensional structures by new optical and electrooptic methods is demonstrated.
ISSN:1608-1021