Цысарь, М. (2012). Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей ta-C-пленки. Сверхтвердые материалы.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Цысарь, М.А. "Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей Ta-C-пленки." Сверхтвердые материалы 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Цысарь, М.А. "Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей Ta-C-пленки." Сверхтвердые материалы, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.