Цысарь, М. (2012). Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Сверхтвердые материалы.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Цысарь, М.А. "Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием." Сверхтвердые материалы 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Цысарь, М.А. "Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием." Сверхтвердые материалы, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.