Цысарь, М. (2012). Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Сверхтвердые материалы.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Цысарь, М.А. "Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием." Сверхтвердые материалы 2012.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Цысарь, М.А. "Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием." Сверхтвердые материалы, 2012.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.