Цысарь, М. (2012). Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Сверхтвердые материалы.
Chicago Style (17th ed.) CitationЦысарь, М.А. "Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием." Сверхтвердые материалы 2012.
MLA (8th ed.) CitationЦысарь, М.А. "Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием." Сверхтвердые материалы, 2012.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.