Цысарь, М. (2012). Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Цысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Цысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.