Цысарь, М. (2012). Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationЦысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
MLA (8th ed.) CitationЦысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.