Цысарь, М. (2012). Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Цысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Цысарь, М.А. Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.