Зображення обкладинки

Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием

Рассмотрены структурные особенности нанокристаллической HFCVD алмазной пленки и построена физико-математическая модель атомной структуры ее поверхности. Пленку исследовали на воздухе на сканирующем туннельном микроскопе, оснащенном острием из полупроводникового монокристалла алмаза, легированного бо...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :	Сверхтвердые материалы
Дата:	2012
Автор:	Цысарь, М.А.
Формат:	Стаття
Мова:	Російська
Опубліковано:	Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2012
Теми:	Получение, структура, свойства
Онлайн доступ:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125991
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием / М.А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. — 2012. — № 4. — С. 56-66. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём
за авторством: Цысарь, М.А.
Опубліковано: (2012)

Применение сканирующего зондового микроскопа с алмазным острием в качестве нанотехнологического инструмента
за авторством: Лысенко, О.Г.
Опубліковано: (2009)

Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
за авторством: Грушко, В., та інші
Опубліковано: (2011)

Оптический датчик температуры на основе нанокристаллической пленки SiC
за авторством: Лопин, А.В., та інші
Опубліковано: (2007)

Оптический датчик температуры на основе нанокристаллической пленки SiC
за авторством: Lopin, A. V., та інші
Опубліковано: (2007)

Исследование топологических особенностей формирования рельефа поверхности пленок нитрида титана на кремниевой подложке при диффузионном массопереносе и отжиге методом сканирующей туннельной микроскопии
за авторством: Цысарь, М.А.
Опубліковано: (2013)

Исследование анизотропии поверхности поликристаллического покрытия нитрида галлия на туннельном микроскопе, оснащенном острием из алмаза, легированного бором
за авторством: Цысарь, М.А.
Опубліковано: (2016)

О нанокристаллической структуре металлического расплава
за авторством: Карасевский, А.И., та інші
Опубліковано: (2013)

Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
за авторством: Волошин, А.В., та інші
Опубліковано: (2013)

Система автоматического управления самонаводящейся ракетой со сканирующим устройством на борту
за авторством: Коруба, З., та інші
Опубліковано: (2007)

Разложимость топологических групп
за авторством: Зеленюк, Е.Г.
Опубліковано: (1999)

Simulation study on airflow field uniformity of HFCVD deposition system by filament spacing
за авторством: F. Deng, та інші
Опубліковано: (2021)

Effects of carbonization of filaments on CVD diamond thick films prepared by HFCVD method
за авторством: Fuming Deng, та інші
Опубліковано: (2020)

Высокопроизводительное шлифование буровых коронок алмазным инструментом
за авторством: Линенко-Мельников, Ю.П., та інші
Опубліковано: (2014)

Влияние предварительного пластического деформирования на шероховатость поверхности титанового сплава Ti–Si после алмазной доводки
за авторством: Розенберг, О.А., та інші
Опубліковано: (2008)

Магнитная структура тонкой ферромагнитной пленки на шероховатой поверхности антиферромагнетика
за авторством: Ковалев, А.С., та інші
Опубліковано: (2011)

Натурные исследования растекания тонкой искусственной пленки на морской поверхности
за авторством: Иванов, В.А., та інші
Опубліковано: (2010)

Эффективность генерации планарного диода с туннельным анодом и туннельной боковой границей
за авторством: Прохоров, Э.Д., та інші
Опубліковано: (2014)

Классификация горных пород по обрабатываемости алмазным инструментом
за авторством: Пегловский, В.В.
Опубліковано: (2012)

О некоторых примерах топологических групп
за авторством: Панасюк, С.П., та інші
Опубліковано: (1983)

Влияние рельефа поверхности пленки на критический ток гетероструктур YBCO–STO–LCMO
за авторством: Коссе, А.И., та інші
Опубліковано: (2008)

К проблеме полноты максимальных топологических групп
за авторством: Арнаутов, В.И., та інші
Опубліковано: (1991)

К проблеме полноты максимальных топологических групп
за авторством: Зубков, А.И., та інші
Опубліковано: (1991)

О некотором классе матричных топологических *-алгебр
за авторством: Тищенко, С.В.
Опубліковано: (2001)

Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза
за авторством: Лысенко, О.Г., та інші
Опубліковано: (2013)

Исследование производительности и трудоемкости шлифования природных камней алмазным инструментом
за авторством: Пегловский, В.В., та інші
Опубліковано: (2009)

Прецизионное точение алюминиевого сплава АМГ-6 алмазным наноструктурным инструментом
за авторством: Розенберг, О.А., та інші
Опубліковано: (2006)

Механизмы рассеяния поверхностных электронов в топологических изоляторах
за авторством: Топоров, Ю.В., та інші
Опубліковано: (2019)

Об одном условии конечности в топологических группах
за авторством: Пилипенко, Ю.Н., та інші
Опубліковано: (1984)

Особенности магнитострикции металлов при электронных топологических переходах
за авторством: Микитик, Г.П., та інші
Опубліковано: (2017)

Технологические параметры алмазной обработки горных пород на плоскошлифовальных станках
за авторством: Пегловский, В.В.
Опубліковано: (2013)

Технологические параметры алмазной обработки горных пород на токарных станках
за авторством: Пегловский, В.В.
Опубліковано: (2014)

ПАРАМЕТРИ ШЛАМУ ГІРСЬКОЇ ПОРОДИ ПРИ ЇЇ РУЙНУВАННІ АЛМАЗНЫМ ПОРОДОРУЙНІВНИМ ІНСТРУМЕНТОМ
за авторством: Ісонкин, О. М., та інші
Опубліковано: (2022)

Применение импульсной электроразрядной обработки для изготовления карбидосталей, модифицированных алмазным микропорошком
за авторством: Сизоненко, О.Н., та інші
Опубліковано: (2015)

Систематизация топологических отношений для интеллектуального анализа многомерных данных
за авторством: Сухинов, А.И., та інші
Опубліковано: (2009)

О топологических. группах с коалгебранческой решеткой замкнутых подгрупп
за авторством: Мухин, Ю.Н., та інші
Опубліковано: (1991)

Об одной задаче, связанной с метризуемостью топологических пространств
за авторством: Смирнов, Ю. М., та інші
Опубліковано: (1951)

Наблюдение экстремального увеличения сверпроводящих параметров внутреннего слоя Nb/AI в ниобиевых структурах с двойным туннельным барьером
за авторством: Невирковец, И.П., та інші
Опубліковано: (1995)

Studies of topological features of the surface of HFCVD nanocrys-talline diamond film using a scanning tunneling microscope with a diamond tip
за авторством: M. A. Tsysar
Опубліковано: (2012)

О топологических нильпотентных группах с абелевыми подгруппами конечного ранга
за авторством: Полецких, В.М., та інші
Опубліковано: (1984)