Buchumschlag

Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием

Рассмотрены структурные особенности нанокристаллической HFCVD алмазной пленки и построена физико-математическая модель атомной структуры ее поверхности. Пленку исследовали на воздухе на сканирующем туннельном микроскопе, оснащенном острием из полупроводникового монокристалла алмаза, легированного бо...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Сверхтвердые материалы
Datum:	2012
1. Verfasser:	Цысарь, М.А.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2012
Schlagworte:	Получение, структура, свойства
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/125991
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием / М.А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. — 2012. — № 4. — С. 56-66. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём
von: Цысарь, М.А.
Veröffentlicht: (2012)

Применение сканирующего зондового микроскопа с алмазным острием в качестве нанотехнологического инструмента
von: Лысенко, О.Г.
Veröffentlicht: (2009)

Теоретическое исследование поведения туннельного тока в сканирующем зондовом микроскопе с алмазным острием
von: Грушко, В., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Оптический датчик температуры на основе нанокристаллической пленки SiC
von: Лопин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Оптический датчик температуры на основе нанокристаллической пленки SiC
von: Lopin, A. V., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Исследование топологических особенностей формирования рельефа поверхности пленок нитрида титана на кремниевой подложке при диффузионном массопереносе и отжиге методом сканирующей туннельной микроскопии
von: Цысарь, М.А.
Veröffentlicht: (2013)

Исследование анизотропии поверхности поликристаллического покрытия нитрида галлия на туннельном микроскопе, оснащенном острием из алмаза, легированного бором
von: Цысарь, М.А.
Veröffentlicht: (2016)

О нанокристаллической структуре металлического расплава
von: Карасевский, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
von: Волошин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Система автоматического управления самонаводящейся ракетой со сканирующим устройством на борту
von: Коруба, З., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Разложимость топологических групп
von: Зеленюк, Е.Г.
Veröffentlicht: (1999)

Simulation study on airflow field uniformity of HFCVD deposition system by filament spacing
von: F. Deng, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Effects of carbonization of filaments on CVD diamond thick films prepared by HFCVD method
von: Fuming Deng, et al.
Veröffentlicht: (2020)

Высокопроизводительное шлифование буровых коронок алмазным инструментом
von: Линенко-Мельников, Ю.П., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Влияние предварительного пластического деформирования на шероховатость поверхности титанового сплава Ti–Si после алмазной доводки
von: Розенберг, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Магнитная структура тонкой ферромагнитной пленки на шероховатой поверхности антиферромагнетика
von: Ковалев, А.С., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Натурные исследования растекания тонкой искусственной пленки на морской поверхности
von: Иванов, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Эффективность генерации планарного диода с туннельным анодом и туннельной боковой границей
von: Прохоров, Э.Д., et al.
Veröffentlicht: (2014)

Классификация горных пород по обрабатываемости алмазным инструментом
von: Пегловский, В.В.
Veröffentlicht: (2012)

О некоторых примерах топологических групп
von: Панасюк, С.П., et al.
Veröffentlicht: (1983)

Влияние рельефа поверхности пленки на критический ток гетероструктур YBCO–STO–LCMO
von: Коссе, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2008)

К проблеме полноты максимальных топологических групп
von: Арнаутов, В.И., et al.
Veröffentlicht: (1991)

К проблеме полноты максимальных топологических групп
von: Зубков, А.И., et al.
Veröffentlicht: (1991)

О некотором классе матричных топологических *-алгебр
von: Тищенко, С.В.
Veröffentlicht: (2001)

Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза
von: Лысенко, О.Г., et al.
Veröffentlicht: (2013)

Исследование производительности и трудоемкости шлифования природных камней алмазным инструментом
von: Пегловский, В.В., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Прецизионное точение алюминиевого сплава АМГ-6 алмазным наноструктурным инструментом
von: Розенберг, О.А., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Механизмы рассеяния поверхностных электронов в топологических изоляторах
von: Топоров, Ю.В., et al.
Veröffentlicht: (2019)

Об одном условии конечности в топологических группах
von: Пилипенко, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (1984)

Особенности магнитострикции металлов при электронных топологических переходах
von: Микитик, Г.П., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Технологические параметры алмазной обработки горных пород на плоскошлифовальных станках
von: Пегловский, В.В.
Veröffentlicht: (2013)

Технологические параметры алмазной обработки горных пород на токарных станках
von: Пегловский, В.В.
Veröffentlicht: (2014)

ПАРАМЕТРИ ШЛАМУ ГІРСЬКОЇ ПОРОДИ ПРИ ЇЇ РУЙНУВАННІ АЛМАЗНЫМ ПОРОДОРУЙНІВНИМ ІНСТРУМЕНТОМ
von: Ісонкин, О. М., et al.
Veröffentlicht: (2022)

Применение импульсной электроразрядной обработки для изготовления карбидосталей, модифицированных алмазным микропорошком
von: Сизоненко, О.Н., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Систематизация топологических отношений для интеллектуального анализа многомерных данных
von: Сухинов, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2009)

О топологических. группах с коалгебранческой решеткой замкнутых подгрупп
von: Мухин, Ю.Н., et al.
Veröffentlicht: (1991)

Об одной задаче, связанной с метризуемостью топологических пространств
von: Смирнов, Ю. М., et al.
Veröffentlicht: (1951)

Наблюдение экстремального увеличения сверпроводящих параметров внутреннего слоя Nb/AI в ниобиевых структурах с двойным туннельным барьером
von: Невирковец, И.П., et al.
Veröffentlicht: (1995)

Studies of topological features of the surface of HFCVD nanocrys-talline diamond film using a scanning tunneling microscope with a diamond tip
von: M. A. Tsysar
Veröffentlicht: (2012)

О топологических нильпотентных группах с абелевыми подгруппами конечного ранга
von: Полецких, В.М., et al.
Veröffentlicht: (1984)