Исследование топологических особенностей формирования рельефа поверхности пленок нитрида титана на кремниевой подложке при диффузионном массопереносе и отжиге методом сканирующей туннельной микроскопии
Рассмотрены особенности структуры и свойств наноструктурных пленок нитрида титана на кремниевой подложке и построена физико-математическая модель формирования рельефа их поверхности на основе деформационной теории. Получена зависимость длины волны поверхностной гофрировки от толщины пленки. Исследов...
Saved in:
| Published in: | Сверхтвердые материалы |
|---|---|
| Date: | 2013 |
| Main Author: | Цысарь, М.А. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2013
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126025 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование топологических особенностей формирования рельефа поверхности пленок нитрида титана на кремниевой подложке при диффузионном массопереносе и отжиге методом сканирующей туннельной микроскопии / М.А. Цысарь // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 1. — С. 56-65. — Бібліогр.: 22 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём
by: Цысарь, М.А.
Published: (2012)
by: Цысарь, М.А.
Published: (2012)
Исследование процессов структурной релаксации поверхности аморфного сплава Fe₇₇Si₈B₁₅ методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
by: Карбовский, В.Л., et al.
Published: (2012)
by: Карбовский, В.Л., et al.
Published: (2012)
Направленная кристаллизация силицидных пленок на кремниевой подложке
by: Belousov, I. V.
Published: (2007)
by: Belousov, I. V.
Published: (2007)
Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
by: Гордиенко, Ю.Е., et al.
Published: (2018)
by: Гордиенко, Ю.Е., et al.
Published: (2018)
Легированные бором монокристаллы алмаза для зондов высоковакуумной туннельной микроскопии
by: Чепугов, А.П., et al.
Published: (2013)
by: Чепугов, А.П., et al.
Published: (2013)
Исследование топологических особенностей поверхности HFCVD нанокристаллической алмазной пленки сканирующим туннельным микроскопом с алмазным острием
by: Цысарь, М.А.
Published: (2012)
by: Цысарь, М.А.
Published: (2012)
Возможности конфокальной сканирующей лазерной микроскопии применительно к оценке процессов апоптоза в яйцеклетках
by: Грищенко, Н.Г.
Published: (2010)
by: Грищенко, Н.Г.
Published: (2010)
Подготовка образцов для просвечивающей и сканирующей электронной микроскопии: новые установки от Leica Microsystems для нанесения покрытий
by: Немова, С.В.
Published: (2014)
by: Немова, С.В.
Published: (2014)
О диффузионном отражении сейсмических колебаний от тектонического нарушения
by: Глухов, И.А., et al.
Published: (2013)
by: Глухов, И.А., et al.
Published: (2013)
К теории эффекта Джозефсона в диффузионном туннельном контакте
by: Безуглый, Е.В., et al.
Published: (1999)
by: Безуглый, Е.В., et al.
Published: (1999)
О диффузионном перемешивании в слоистой пленочной системе Ag-Pd
by: Крышталь, А.П., et al.
Published: (2013)
by: Крышталь, А.П., et al.
Published: (2013)
Разложимость топологических групп
by: Зеленюк, Е.Г.
Published: (1999)
by: Зеленюк, Е.Г.
Published: (1999)
Влияние параметров гидролокатора бокового обзора и особенностей рельефа дна на корреляцию рассеянных акустических сигналов
by: Голод, О.С., et al.
Published: (2007)
by: Голод, О.С., et al.
Published: (2007)
Нитридгаллиевый диод с туннельной инжекцией
by: Гончарук, Н.М., et al.
Published: (2013)
by: Гончарук, Н.М., et al.
Published: (2013)
Микросборка на кремниевой плате для акселерометра
by: Spirin, V. G.
Published: (2013)
by: Spirin, V. G.
Published: (2013)
Микросборка на кремниевой плате для акселерометра
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013)
by: Спирин, В.Г.
Published: (2013)
Деградация контакта Шоттки при термическом отжиге
by: Венгер, Е.Ф., et al.
Published: (2012)
by: Венгер, Е.Ф., et al.
Published: (2012)
Исследование анизотропии поверхности поликристаллического покрытия нитрида галлия на туннельном микроскопе, оснащенном острием из алмаза, легированного бором
by: Цысарь, М.А.
Published: (2016)
by: Цысарь, М.А.
Published: (2016)
Информационно-измерительная система для туннельной спектроскопии
by: Жарков, И.П., et al.
Published: (2010)
by: Жарков, И.П., et al.
Published: (2010)
О некоторых примерах топологических групп
by: Панасюк, С.П., et al.
Published: (1983)
by: Панасюк, С.П., et al.
Published: (1983)
Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии
by: Хвостов, С.С., et al.
Published: (2003)
by: Хвостов, С.С., et al.
Published: (2003)
Многокристальные модули на анодированной алюминиевой подложке
by: Сокол, В.А., et al.
Published: (2002)
by: Сокол, В.А., et al.
Published: (2002)
Оценка качества спермы методами интерференционной микроскопии
by: Васильев, В.С.
Published: (2013)
by: Васильев, В.С.
Published: (2013)
Термостабильность сильно деформированных неметаллических кристаллов при статическом отжиге
by: Олейник, Г.С., et al.
Published: (2016)
by: Олейник, Г.С., et al.
Published: (2016)
Микронегатронный преобразователь давления на основе кремниевой МОП-структуры
by: Гасанов, А.М., et al.
Published: (2004)
by: Гасанов, А.М., et al.
Published: (2004)
Определение температур превращений в модельных составах методом дифференциальной сканирующей калориметрии
by: Репях, С.И.
Published: (2011)
by: Репях, С.И.
Published: (2011)
К проблеме полноты максимальных топологических групп
by: Арнаутов, В.И., et al.
Published: (1991)
by: Арнаутов, В.И., et al.
Published: (1991)
К проблеме полноты максимальных топологических групп
by: Зубков, А.И., et al.
Published: (1991)
by: Зубков, А.И., et al.
Published: (1991)
О некотором классе матричных топологических *-алгебр
by: Тищенко, С.В.
Published: (2001)
by: Тищенко, С.В.
Published: (2001)
Реконструкция заряженной пленки гелия на металлической подложке
by: Шикин, В., et al.
Published: (1997)
by: Шикин, В., et al.
Published: (1997)
Применение интерференционно-поляризационной микроскопии при исследовании микроспоридий
by: Овчаренко, Д.А.
Published: (1983)
by: Овчаренко, Д.А.
Published: (1983)
Исследование допустимой импульсной мощности кремниевой p+–p–n+-структуры
by: Karimov, A. V., et al.
Published: (2011)
by: Karimov, A. V., et al.
Published: (2011)
Изменение структуры при отжиге быстрозакаленного сплава плазменно-дуговой выплавки
by: Кожемякин, Г.Н., et al.
Published: (2008)
by: Кожемякин, Г.Н., et al.
Published: (2008)
Исследование допустимой импульсной мощности кремниевой p+–p–n+-структуры
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2011)
by: Каримов, А.В., et al.
Published: (2011)
Механизмы рассеяния поверхностных электронов в топологических изоляторах
by: Топоров, Ю.В., et al.
Published: (2019)
by: Топоров, Ю.В., et al.
Published: (2019)
Об одном условии конечности в топологических группах
by: Пилипенко, Ю.Н., et al.
Published: (1984)
by: Пилипенко, Ю.Н., et al.
Published: (1984)
Особенности магнитострикции металлов при электронных топологических переходах
by: Микитик, Г.П., et al.
Published: (2017)
by: Микитик, Г.П., et al.
Published: (2017)
Исследование аминомодифицированных зондов для атомно-силовой микроскопии биомолекул
by: Лиманский, А.П.
Published: (2002)
by: Лиманский, А.П.
Published: (2002)
Переохлаждение при кристаллизации пленок висмута на германиевой подложке
by: Колендовский, М.М., et al.
Published: (2007)
by: Колендовский, М.М., et al.
Published: (2007)
Образование квазикристаллических структур при отжиге микрослойных покрытий (Ti, Cr)-Si
by: Мовчан, Б.А., et al.
Published: (2003)
by: Мовчан, Б.А., et al.
Published: (2003)
Similar Items
-
Исследование стекла системы Ag₂O—B₂O₃ методом сканирующей туннельной микроскопии с полупроводниковым алмазным остриём
by: Цысарь, М.А.
Published: (2012) -
Исследование процессов структурной релаксации поверхности аморфного сплава Fe₇₇Si₈B₁₅ методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии
by: Карбовский, В.Л., et al.
Published: (2012) -
Направленная кристаллизация силицидных пленок на кремниевой подложке
by: Belousov, I. V.
Published: (2007) -
Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
by: Гордиенко, Ю.Е., et al.
Published: (2018) -
Легированные бором монокристаллы алмаза для зондов высоковакуумной туннельной микроскопии
by: Чепугов, А.П., et al.
Published: (2013)