Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке

Изучено влияние кристаллографической ориентации сапфира и его отжига на шероховатость поверхности при алмазном шлифовании и полировании. Вивчено вплив кристалографічної орієнтації сапфіру та його відпалу на шорсткість поверхні при алмазному шліфуванні та поліруванні. The influences of the crystallog...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Сверхтвердые материалы
Date:2013
Main Authors: Волошин, А.В., Литвинов, Л.А., Слюнин, Е.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2013
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126027
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке / А.В. Волошин, Л.А. Литвинов, Е.В. Слюнин // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 1. — С. 74-78. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-126027
record_format dspace
spelling Волошин, А.В.
Литвинов, Л.А.
Слюнин, Е.В.
2017-11-11T17:33:15Z
2017-11-11T17:33:15Z
2013
Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке / А.В. Волошин, Л.А. Литвинов, Е.В. Слюнин // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 1. — С. 74-78. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
0203-3119
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126027
[621.7.015:620.191.35]:679.822
Изучено влияние кристаллографической ориентации сапфира и его отжига на шероховатость поверхности при алмазном шлифовании и полировании.
Вивчено вплив кристалографічної орієнтації сапфіру та його відпалу на шорсткість поверхні при алмазному шліфуванні та поліруванні.
The influences of the crystallographic features and thermal treatment on the roughness of the sapphire surface with a diamond grinding and polishing are studied.
ru
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
Сверхтвердые материалы
Исследование процессов обработки
Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
Effect of the crystallographic orientation on the sapphire surface roughness in diamond machining
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
spellingShingle Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
Волошин, А.В.
Литвинов, Л.А.
Слюнин, Е.В.
Исследование процессов обработки
title_short Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
title_full Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
title_fullStr Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
title_full_unstemmed Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
title_sort влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке
author Волошин, А.В.
Литвинов, Л.А.
Слюнин, Е.В.
author_facet Волошин, А.В.
Литвинов, Л.А.
Слюнин, Е.В.
topic Исследование процессов обработки
topic_facet Исследование процессов обработки
publishDate 2013
language Russian
container_title Сверхтвердые материалы
publisher Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
format Article
title_alt Effect of the crystallographic orientation on the sapphire surface roughness in diamond machining
description Изучено влияние кристаллографической ориентации сапфира и его отжига на шероховатость поверхности при алмазном шлифовании и полировании. Вивчено вплив кристалографічної орієнтації сапфіру та його відпалу на шорсткість поверхні при алмазному шліфуванні та поліруванні. The influences of the crystallographic features and thermal treatment on the roughness of the sapphire surface with a diamond grinding and polishing are studied.
issn 0203-3119
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126027
citation_txt Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке / А.В. Волошин, Л.А. Литвинов, Е.В. Слюнин // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 1. — С. 74-78. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT vološinav vliâniekristallografičeskoiorientaciinašerohovatostʹpoverhnostisapfiraprialmaznoiobrabotke
AT litvinovla vliâniekristallografičeskoiorientaciinašerohovatostʹpoverhnostisapfiraprialmaznoiobrabotke
AT slûninev vliâniekristallografičeskoiorientaciinašerohovatostʹpoverhnostisapfiraprialmaznoiobrabotke
AT vološinav effectofthecrystallographicorientationonthesapphiresurfaceroughnessindiamondmachining
AT litvinovla effectofthecrystallographicorientationonthesapphiresurfaceroughnessindiamondmachining
AT slûninev effectofthecrystallographicorientationonthesapphiresurfaceroughnessindiamondmachining
first_indexed 2025-11-27T07:10:20Z
last_indexed 2025-11-27T07:10:20Z
_version_ 1850806159488843776
fulltext www.ism.kiev.ua/stm 74 УДК [621.7.015:620.191.35]:679.822 А. В. Волошин, Л. А. Литвинов, Е. В. Слюнин (г. Харьков) Влияние кристаллографической ориентации на шероховатость поверхности сапфира при алмазной обработке Изучено влияние кристаллографической ориентации сапфира и его отжига на шероховатость поверхности при алмазном шлифовании и поли- ровании. Ключевые слова: сапфир, шлифование, полирование, отжиг, шероховатость поверхности, кристаллографическая ориентация. Существующие технологии алмазно-абразивной обработки сапфира являются трудоемкими, поэтому затраты на получение требуемого качества поверхности составляют значительную часть стоимости детали [1]. Одной из главных задач обработки сапфира является удаление нарушенного дефектного слоя и получение необходимого качества поверхности [2]. Для достижения низкой шероховатости, а также исключения стадии финишной обработки для некоторых типов изделий, необходимо проведение более де- тальных исследований, в частности, исследования влияния кристаллографи- ческой ориентации на состояние обработанной поверхности. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА Исследования проводили на плоскопараллельных образцах размером 3×4×40 мм, вырезанных из сапфира с ориентацией исследуемых плоскостей (0001), { 0110 }, { 0211 } и { 2110 }. Параметры шероховатости поверхности после различных видов обработки измеряли профилометром-профилографом TR-200. Образцы последовательно обрабатывали закрепленным абразивом АС зернистостью 100/80, 80/63, 63/50, а затем полировали алмазными микро- порошками АСМ зернистостью 28/20, 10/7, 3/2 в свободном состоянии. Шлифованные и полированные образцы отжигали в течение 4 ч при 1850 °С в вакууме. РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ В связи с анизотропией сапфира различные кристаллографические плос- кости обрабатываются по-разному, что, соответственно, сказывается на со- стоянии поверхности после обработки [3, 4]. Так, параметр шероховатости шлифованной поверхности в плоскости { 0211 } меньше, чем плоскости бази- са (0001), что особенно заметно при обработке закрепленным абразивом АС 100/80 (рис. 1). Наблюдаемые различия в состоянии поверхности плоскости базиса и призмы, по-видимому, обусловлены тем, что плоскостями скола в сапфире являются плоскости призмы. В процессе шлифования на поверхно- сти создается слой сплошной трещиноватости, а из этого слоя по образовав- шимся трещинам выкрашиваются частицы. Важным параметром, влияющим на шероховатость поверхности, является угол между направлением распро- © А. В. ВОЛОШИН, Л. А. ЛИТВИНОВ, Е. В. СЛЮНИН, 2013 ISSN 0203-3119. Сверхтвердые материалы, 2013, № 1 75 странения трещины и поверхностью образца. При обработке плоскости бази- са трещины образуются под большим (∼ 80–110°) углом к поверхности обра- ботки, для плоскостей призмы этот угол существенно меньше (∼ 5–40°). В первом случае образуются глубокие каверны, во втором – существенно менее глубокие и широкие, что способствует уменьшению шероховатости. 1,305 1,151 1,096 1,428 1,097 0,801 0,618 1,166 0 0,2 0,4 0,6 0,8 1,0 1,2 1,4 1,6 R a, м км {1010} {1120} {1012} (0001) – – – Рис. 1. Влияние кристаллографической ориентации сапфира на шероховатость его поверх- ности при шлифовании закрепленными зернами алмазного шлифпорошка зернистостью 100/80 (до (�) и после (�) отжига в вакууме). Для полированных поверхностей сапфира наблюдается обратная карти- на – максимальная шероховатость в плоскости { 0211 }, минимальная – в плоскости { 2110 } (рис. 2). Шероховатость полированных поверхностей сап- фира коррелирует с микротвердостью соответствующих плоскостей. Так, в направлении < 2110 > кристалла микротвердость и сопротивление сверлению максимальные [5]. 0,0256 0,027 0,0297 0,02180,0227 0,021 0,0255 0,019 0 0,005 0,010 0,015 0,020 0,025 0,030 0,035 R a, м км {10–10} {11–20} {10–12} (0001) Рис. 2. Влияние кристаллографической ориентации сапфира на шероховатость его поверх- ности при полировании алмазными микропорошками в свободном состоянии зернисто- стью 10/7 (до (�) и после (�) отжига в вакууме). www.ism.kiev.ua/stm 76 Сравнение профилограмм поверхности { 0211 } образцов до и после отжи- га показывает существенное различие их по характеру и величине микроне- ровностей (рис. 3). Для образцов, шлифованных закрепленным абразивом (АС 100/80), средняя величина микронеровностей профиля Ra ≈ 1 мкм. Вы- сокотемпературный отжиг снижает шероховатость поверхности в 2 раза (Ra ≈ 0,5 мкм). мкм 1 2 3 мм 0 4 8 12 16 – –4 –8 –12 –16 а мкм 1 2 3 мм 0 4 8 12 16 –4 –8 –12 –16 б Рис. 3. Типичные профилограммы поверхности сапфира в плоскости { 0211 }, обработан- ной закрепленным абразивом (АС 100/80) (до (а) и после (б) отжига при температуре 1850 °С в течение 4 ч); Ra ≈ 1 (а) и 0,6 (б) мкм. Термообработка шлифованных образцов существенно улучшает качество поверхности вследствие рекристаллизации дефектного приповерхностного слоя и испарения загрязняющих этот слой включений [6–8]. При этом уменьшается высота неровностей, увеличивается среднее расстояние между ними (рис. 4), повышается класс обработки, параметр шероховатости Ra уменьшается на 15–45 % (см. рис. 1). При термообработке полированной поверхности параметр шероховатости уменьшается на 12–22 % (см. рис. 2). При более высокой (∼ 2000 °С) температуре отжига для полированных об- разцов наблюдается иная картина. Хотя плотность дислокаций на поверхно- сти оказывается равной объемной плотности и практически полностью исче- зает слой с повышенной плотностью дислокаций, шероховатость поверхно- ISSN 0203-3119. Сверхтвердые материалы, 2013, № 1 77 сти увеличивается. Из-за термического травления поверхности ухудшаются оптические свойства [3]. 100 μm а 100 μm б Рис. 4. Микроснимки шлифованной (АС 100/80) поверхности сапфира до (а) и после (б) отжига. Таким образом, максимальный эффект достигается вакуумным отжигом изделий из сапфира с шероховатостью поверхности Ra ≥ 1 мкм. ВЫВОДЫ При прочих равных условиях параметр шероховатости Ra поверхности сапфира при обработке зависит от кристаллографической ориентации обра- батываемых граней. Минимальный параметр шероховатости для шлифован- ных поверхностей наблюдается в плоскости ( 0211 ), для полированных – в плоскости ( 2110 ). Отжиг в вакууме уменьшает шероховатость шлифованных образцов на 15–45 %, а полированных на 12–22 % по сравнению с исходным состоянием. Вивчено вплив кристалографічної орієнтації сапфіру та його відпалу на шорсткість поверхні при алмазному шліфуванні та поліруванні. Ключові слова: сапфір, шліфування, полірування, відпал, шорсткість поверхні, кристалографічна орієнтація. The influences of the crystallographic features and thermal treatment on the roughness of the sapphire surface with a diamond grinding and polishing are studied. Keywords: sapphire, grinding, polishing, annealing, surface roughness, crystallographic orientation. 1. Рогов В. В., Рублев Н. Д., Троян А. В., Попельнюк В. Н. Развитие технологии прецизион- ной обработки функциональных поверхностей оптических и электронных деталей из синтетического монокорунда (сапфира) // Сверхтв. материалы. – 2002. – № 5. – С. 83. 2. Kaltaev Kh. Sh-ogly, Sidelnicova N. S., Danco A. Ya. et al. Thermochemical etching of sap- phire in CO + H2 gas atmosphere // Functional Materials. – 2010. – 17, N 3. – P. 395–400. 3. Волошин А. В., Литвинов Л. А., Островская Е. Л. и др. Влияние кристаллографической ориентации на трибологические характеристики монокристаллов корунда // Материалы электронной техники. – 2004. – № 1. – С. 16–19. 4. Добровинская Е. Р., Литвинов Л. А., Пищик В. В. Энциклопедия сапфира. – Харьков: Ин-т монокристаллов НАНУ. – 2004. – 510 с. 5. Голубь Б. И. Синтетический корунд и его применение в промышленности: обзор зарубежной техники. – М., 1961. – 7 c. www.ism.kiev.ua/stm 78 6. Добровинская Е. Р., Литвинов Л. А., Рубинов Ю. А. Влияние термического и механичес- кого воздействия на свойства сапфирового полого волновода волновых ИК-лазеров // Оптико-механическая промышленность. – 1991. – № 7. – С. 32–34. 7. Довгань М. Е., Зайцева В. И., Шахнович М. И. Влияние способа полировки на состояние поверхности и прозрачность монокристаллического корунда // Физика и химия обработки материалов. – 1976. – № 4. – С. 146–148. 8. Кривоносов Е. В. Влияние условий отжига на оптические и механические ха- рактеристики монокристаллов корунда: Автореф. дис. … канд. физ.-мат. наук. – Харьков, 1989. – 20 с. Ин-т монокристаллов НТК Поступила 12.07.11 “Институт монокристаллов” НАН Украины