Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза
На основании анализа зависимости туннельного тока от параметров системы алмазное острие–образец сканирующего туннельного микроскопа оценена разрешающая способность прибора при его работе в режиме сканирования. Установлены параметры сканирования и точность поддержания постоянного значения туннельного...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Сверхтвердые материалы |
|---|---|
| Дата: | 2013 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2013
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126036 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза / О.Г. Лысенко, В.И. Грушко, В.Н. Ткач, Е.И. Мицкевич // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 2. — С. 65-74. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862642341717737472 |
|---|---|
| author | Лысенко, О.Г. Грушко, В.И. Ткач, В.Н. Мицкевич, Е.И. |
| author_facet | Лысенко, О.Г. Грушко, В.И. Ткач, В.Н. Мицкевич, Е.И. |
| citation_txt | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза / О.Г. Лысенко, В.И. Грушко, В.Н. Ткач, Е.И. Мицкевич // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 2. — С. 65-74. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Сверхтвердые материалы |
| description | На основании анализа зависимости туннельного тока от параметров системы алмазное острие–образец сканирующего туннельного микроскопа оценена разрешающая способность прибора при его работе в режиме сканирования. Установлены параметры сканирования и точность поддержания постоянного значения туннельного тока системой обратной связи прибора, при которых возможно наличие атомарного разрешения в случае единственного канала туннелирования. Предложено альтернативное (к наиболее известным публикациям) объяснение гексагональной структуры поверхности пиролитического графита, наблюдаемой с атомарным разрешением. Обсуждена проблема многоканального туннелирования, связанная с наличием в рабочей зоне алмазного зонда нескольких нановыступов, инициирующих туннелирование и ухудшающих разрешающую способность сканирующего туннельного микроскопа.
На основі аналізу залежностей тунельного струму від параметрів системи алмазне вістря–зразок сканувального тунельного мікроскопу оцінено роздільну здатність приладу при його роботі у режимі сканування. Встановлено параметри сканування та точність підтримки постійного значення тунельного струму системою зворотного зв’язку приладу, за яких можлива наявність атомарної роздільної здатності у випадку поодинокого каналу тунелювання. Запропоновано альтернативне (до найбільш відомих публікацій) пояснення гексагональної структури поверхні піролітичного графіту, що спостерігали з атомарною роздільною здатністю. Розглянуто проблему багатоканального тунелювання, що пов’язана з наявністю у робочій зоні алмазного зонда кількох нановиступів, які ініціюють тунелювання та погіршують роздільну здатність сканувального тунельного мікроскопу.
The assessment of the resolution of scanning tunneling microscope when operated in the scanning mode has been made based on the analysis of the tunneling current on parameters of diamond tip–sample system. The scanning parameters and accuracy of supporting the constant tunneling current by the system of the instrument feedback, at which the presence of the atomic resolution is possible in the case of a single channel of tunneling, have been defined. An alternative (in respect to the best known publications) explanation of the hexagonal structure of the pyrolytic graphite surface observed with atomic resolution has been suggested. The problem of multichannel tunneling caused by the presence of several nanoprotrusions in the diamond probe test zone that initiate tunneling and impair the resolution of a scanning tunneling microscope is discussed.
|
| first_indexed | 2025-12-01T05:14:20Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-126036 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0203-3119 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-01T05:14:20Z |
| publishDate | 2013 |
| publisher | Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Лысенко, О.Г. Грушко, В.И. Ткач, В.Н. Мицкевич, Е.И. 2017-11-11T19:13:06Z 2017-11-11T19:13:06Z 2013 Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза / О.Г. Лысенко, В.И. Грушко, В.Н. Ткач, Е.И. Мицкевич // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 2. — С. 65-74. — Бібліогр.: 16 назв. — рос. 0203-3119 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126036 537.533.35 На основании анализа зависимости туннельного тока от параметров системы алмазное острие–образец сканирующего туннельного микроскопа оценена разрешающая способность прибора при его работе в режиме сканирования. Установлены параметры сканирования и точность поддержания постоянного значения туннельного тока системой обратной связи прибора, при которых возможно наличие атомарного разрешения в случае единственного канала туннелирования. Предложено альтернативное (к наиболее известным публикациям) объяснение гексагональной структуры поверхности пиролитического графита, наблюдаемой с атомарным разрешением. Обсуждена проблема многоканального туннелирования, связанная с наличием в рабочей зоне алмазного зонда нескольких нановыступов, инициирующих туннелирование и ухудшающих разрешающую способность сканирующего туннельного микроскопа. На основі аналізу залежностей тунельного струму від параметрів системи алмазне вістря–зразок сканувального тунельного мікроскопу оцінено роздільну здатність приладу при його роботі у режимі сканування. Встановлено параметри сканування та точність підтримки постійного значення тунельного струму системою зворотного зв’язку приладу, за яких можлива наявність атомарної роздільної здатності у випадку поодинокого каналу тунелювання. Запропоновано альтернативне (до найбільш відомих публікацій) пояснення гексагональної структури поверхні піролітичного графіту, що спостерігали з атомарною роздільною здатністю. Розглянуто проблему багатоканального тунелювання, що пов’язана з наявністю у робочій зоні алмазного зонда кількох нановиступів, які ініціюють тунелювання та погіршують роздільну здатність сканувального тунельного мікроскопу. The assessment of the resolution of scanning tunneling microscope when operated in the scanning mode has been made based on the analysis of the tunneling current on parameters of diamond tip–sample system. The scanning parameters and accuracy of supporting the constant tunneling current by the system of the instrument feedback, at which the presence of the atomic resolution is possible in the case of a single channel of tunneling, have been defined. An alternative (in respect to the best known publications) explanation of the hexagonal structure of the pyrolytic graphite surface observed with atomic resolution has been suggested. The problem of multichannel tunneling caused by the presence of several nanoprotrusions in the diamond probe test zone that initiate tunneling and impair the resolution of a scanning tunneling microscope is discussed. ru Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України Сверхтвердые материалы Получение, структура, свойства Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза Assessment of the resolution of scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped diamond Article published earlier |
| spellingShingle | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза Лысенко, О.Г. Грушко, В.И. Ткач, В.Н. Мицкевич, Е.И. Получение, структура, свойства |
| title | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
| title_alt | Assessment of the resolution of scanning tunneling microscope with a tip of a boron-doped diamond |
| title_full | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
| title_fullStr | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
| title_full_unstemmed | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
| title_short | Оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
| title_sort | оценка разрешающей способности сканирующего туннельного микроскопа с острием из легированного бором алмаза |
| topic | Получение, структура, свойства |
| topic_facet | Получение, структура, свойства |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126036 |
| work_keys_str_mv | AT lysenkoog ocenkarazrešaûŝeisposobnostiskaniruûŝegotunnelʹnogomikroskopasostriemizlegirovannogoboromalmaza AT gruškovi ocenkarazrešaûŝeisposobnostiskaniruûŝegotunnelʹnogomikroskopasostriemizlegirovannogoboromalmaza AT tkačvn ocenkarazrešaûŝeisposobnostiskaniruûŝegotunnelʹnogomikroskopasostriemizlegirovannogoboromalmaza AT mickevičei ocenkarazrešaûŝeisposobnostiskaniruûŝegotunnelʹnogomikroskopasostriemizlegirovannogoboromalmaza AT lysenkoog assessmentoftheresolutionofscanningtunnelingmicroscopewithatipofaborondopeddiamond AT gruškovi assessmentoftheresolutionofscanningtunnelingmicroscopewithatipofaborondopeddiamond AT tkačvn assessmentoftheresolutionofscanningtunnelingmicroscopewithatipofaborondopeddiamond AT mickevičei assessmentoftheresolutionofscanningtunnelingmicroscopewithatipofaborondopeddiamond |