Точность дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями

• Datum: 2013
• Hauptverfasser: Новиков, Н.В., Кривошея, Ю.Н., Шведов, Л.К.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2013
• Schlagworte: Письма в редакцию
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126048
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Точность дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями / Н.В. Новиков, Ю.Н. Кривошея, Л.К. Шведов // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 3. — С. 83-87. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.

Проведен анализ точности дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре типа ДРОН-3 по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями. В качестве образцов были использованы общепринятые эталонные материалы – поликристаллический кремний и NaCl, а долговременную стабильность проверяли на стальном образце. Проведено аналіз точності дифрактограм, отриманих на рентгенівському дифрактометрі типу ДРОН-3 за методом Добровольського-Шведова в комірці з алмазними ковадлами. Як зразки було використано загальноприйняті еталонні матеріали – полікристалічний кремній і NaCl, а довготривалу стабільність перевіряли на сталевому зразку. There was analyzed of the accuracy of the diffraction patterns obtained on the X-ray diffractometer type as DRON-3 by Dobrowolski-Shvedov’s method at a diamond anvil cell. There were used the common reference materials polycrystalline silicon and NaCl as the samples and for the long-term stability was used a steel sample.