Точность дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями - Новиков, Н.В.; Кривошея, Ю.Н.; Шведов, Л.К. (Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2013)
Проведен анализ точности дифрактограмм, полученных на рентгеновском дифрактометре типа ДРОН-3 по методу Добровольского-Шведова в ячейке с алмазными наковальнями. В качестве образцов были использованы общепринятые эталонные материалы – поликристаллический кремний и NaCl, а долговременную стабильность проверяли на стальном образце. Проведено аналіз точності дифрактограм, отриманих на рентгенівському дифрактометрі типу ДРОН-3 за методом Добровольського-Шведова в комірці з алмазними ковадлами. Як зразки було використано загальноприйняті еталонні матеріали – полікристалічний кремній і NaCl, а довготривалу стабільність перевіряли на сталевому зразку. There was analyzed of the accuracy of the diffraction patterns obtained on the X-ray diffractometer type as DRON-3 by Dobrowolski-Shvedov’s method at a diamond anvil cell. There were used the common reference materials polycrystalline silicon and NaCl as the samples and for the long-term stability was used a steel sample.