Локальные деформации в кристаллах алмаза, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи

Предложена новая методика определения локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием дискретного двумерного Фурье-преобразования. Данная методика апробирована при исследовании образцов алмаза, синтезированных при различных усл...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Сверхтвердые материалы
Datum:2013
Hauptverfasser: Борча, М.Д., Баловсяк, С.В., Фодчук, И.М., Хоменко, В.Ю., Кройтор, О.П., Ткач, В.Н.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2013
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/126061
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Локальные деформации в кристаллах алмаза, определенные с помощью Фурье-преобразования картин Кикучи / М.Д. Борча, С.В. Баловсяк, И.М. Фодчук, В.Ю. Хоменко, О.П. Кройтор, В.Н. Ткач // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 5. — С. 39-48. — Бібліогр.: 22 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Предложена новая методика определения локальных деформаций в кристаллах по картинам дифракции обратно отраженных электронов (картинам Кикучи) с использованием дискретного двумерного Фурье-преобразования. Данная методика апробирована при исследовании образцов алмаза, синтезированных при различных условиях. Полученные результаты хорошо согласуются с данными других методов. Запропоновано нову методику визначення локальних деформацій у кристалах із картин дифракції зворотно відбитих електронів (картин Кікучі) з використанням дискретного двомірного Фур’є-перетворення. Дану методику апробовано при дослідженні зразків алмазу, синтезованих в різних умовах. Отримані результати добре узгоджуються з даними інших методів. A new way of local strain determination in crystals from patterns of electron backscattering diffraction (Kikuchi patterns) based on discrete two-dimensional Fourier transformation has been proposed. This approach was approved at research of diamond samples synthesized under various conditions. Obtained results agree with data from other methods.
ISSN:0203-3119