Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂

Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений
 данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристалло...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика низких температур
Дата:2007
Автори: Гасанов, Н.З., Керимова, Э.М., Гасанов, А.И., Асадов, Ю.Г.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2007
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений
 данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005;
 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения. Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи.
 У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання. The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive
 system has been investigated. The
 x-ray diffraction analysis made it possible to estimate
 the crystal lattice parameters of this system
 compounds. The absorption spectra experimental
 measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals
 (x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature
 interval. The level positions and the coefficients
 of temperature shift of excitons at the
 edge of and deep are optical absorption were determined.
ISSN:0132-6414