Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов тверды...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика низких температур |
|---|---|
| Дата: | 2007 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2007
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений
данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005;
0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения.
Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи.
У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання.
The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive
system has been investigated. The
x-ray diffraction analysis made it possible to estimate
the crystal lattice parameters of this system
compounds. The absorption spectra experimental
measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals
(x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature
interval. The level positions and the coefficients
of temperature shift of excitons at the
edge of and deep are optical absorption were determined.
|
|---|---|
| ISSN: | 0132-6414 |