Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂

Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений
 данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристалло...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:2007
Hauptverfasser: Гасанов, Н.З., Керимова, Э.М., Гасанов, А.И., Асадов, Ю.Г.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2007
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862709340946825216
author Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
author_facet Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
citation_txt Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физика низких температур
description Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений
 данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005;
 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения. Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи.
 У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання. The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive
 system has been investigated. The
 x-ray diffraction analysis made it possible to estimate
 the crystal lattice parameters of this system
 compounds. The absorption spectra experimental
 measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals
 (x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature
 interval. The level positions and the coefficients
 of temperature shift of excitons at the
 edge of and deep are optical absorption were determined.
first_indexed 2025-12-07T17:16:34Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-127507
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 0132-6414
language Russian
last_indexed 2025-12-07T17:16:34Z
publishDate 2007
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
record_format dspace
spelling Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
2017-12-23T12:41:17Z
2017-12-23T12:41:17Z
2007
Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 78.20.–e, 78.30.Fs
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений
 данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005;
 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения.
Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи.
 У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання.
The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive
 system has been investigated. The
 x-ray diffraction analysis made it possible to estimate
 the crystal lattice parameters of this system
 compounds. The absorption spectra experimental
 measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals
 (x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature
 interval. The level positions and the coefficients
 of temperature shift of excitons at the
 edge of and deep are optical absorption were determined.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Электpонные свойства металлов и сплавов
Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
Optical properties and crystal lattice parameters of TIGa1–xFexSe2 solid solutions
Article
published earlier
spellingShingle Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
Электpонные свойства металлов и сплавов
title Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_alt Optical properties and crystal lattice parameters of TIGa1–xFexSe2 solid solutions
title_full Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_fullStr Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_full_unstemmed Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_short Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_sort оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов tiga₁₋xfexse₂
topic Электpонные свойства металлов и сплавов
topic_facet Электpонные свойства металлов и сплавов
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
work_keys_str_mv AT gasanovnz optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT kerimovaém optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT gasanovai optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT asadovûg optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT gasanovnz opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
AT kerimovaém opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
AT gasanovai opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
AT asadovûg opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions