Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂

Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов тверды...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Физика низких температур
Дата:2007
Автори: Гасанов, Н.З., Керимова, Э.М., Гасанов, А.И., Асадов, Ю.Г.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2007
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-127507
record_format dspace
spelling Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
2017-12-23T12:41:17Z
2017-12-23T12:41:17Z
2007
Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 78.20.–e, 78.30.Fs
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения.
Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи. У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання.
The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive system has been investigated. The x-ray diffraction analysis made it possible to estimate the crystal lattice parameters of this system compounds. The absorption spectra experimental measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals (x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature interval. The level positions and the coefficients of temperature shift of excitons at the edge of and deep are optical absorption were determined.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
Электpонные свойства металлов и сплавов
Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
Optical properties and crystal lattice parameters of TIGa1–xFexSe2 solid solutions
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
spellingShingle Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
Электpонные свойства металлов и сплавов
title_short Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_full Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_fullStr Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_full_unstemmed Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂
title_sort оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов tiga₁₋xfexse₂
author Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
author_facet Гасанов, Н.З.
Керимова, Э.М.
Гасанов, А.И.
Асадов, Ю.Г.
topic Электpонные свойства металлов и сплавов
topic_facet Электpонные свойства металлов и сплавов
publishDate 2007
language Russian
container_title Физика низких температур
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
format Article
title_alt Optical properties and crystal lattice parameters of TIGa1–xFexSe2 solid solutions
description Исследована система полупроводниковых твердых растворов TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурный анализ позволил установить параметры кристаллической решетки соединений данной системы. В температурном интервале 10–120 К проведены экспериментальные исследования спектров поглощения монокристаллов твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), определены энергетические положения и коэффициенты температурного сдвига экситонов на краю и в глубине оптического поглощения. Досліджено систему напівпровідникових твердих розчинів TlGaSе₂–TlFeSe₂. Рентгеноструктурний аналіз дозволив установити параметри кристалічної гратки сполук даної системи. У температурному інтервалі 10–120 К проведено експериментальні дослідження спектрів поглинання монокристалів твердих розчинів TIGa₁₋xFexSe₂ (x = 0; 0,005; 0,01), визначено енергетичні положення та коефіцієнти температурного зсування екситонів на краю й у глибині оптичного поглинання. The solid solutions of TlGaSе₂–TlFeSe₂ semiconductive system has been investigated. The x-ray diffraction analysis made it possible to estimate the crystal lattice parameters of this system compounds. The absorption spectra experimental measurements of TIGa₁₋xFexSe₂ single crystals (x = 0; 0.005; 0.01) were made at 10–120 K temperature interval. The level positions and the coefficients of temperature shift of excitons at the edge of and deep are optical absorption were determined.
issn 0132-6414
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127507
citation_txt Оптические свойства и параметры кристаллической решетки твердых растворов TIGa₁₋xFexSe₂ / Н.З. Гасанов, Э.М. Керимова, А.И. Гасанов, Ю.Г. Асадов // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 1. — С. 115-118. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT gasanovnz optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT kerimovaém optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT gasanovai optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT asadovûg optičeskiesvoistvaiparametrykristalličeskoirešetkitverdyhrastvorovtiga1xfexse2
AT gasanovnz opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
AT kerimovaém opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
AT gasanovai opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
AT asadovûg opticalpropertiesandcrystallatticeparametersoftiga1xfexse2solidsolutions
first_indexed 2025-12-07T17:16:34Z
last_indexed 2025-12-07T17:16:34Z
_version_ 1850870641838784512