Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь

Тонкая легированная медью (8 %, атомная доля Cu) углеродная пленка нанесена магнетронным распылением на постоянном токе в аргоновой плазме составной (графит+медь) мишени на подложку из монокристаллического (100) NaCl при комнатной температуре. Эволюция микроструктуры пленки при отжиге в вакууме при...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2008
Main Authors: Оноприенко, А.А., Даниленко, Н.И., Косско, И.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України 2008
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/12764
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь / А.А. Оноприенко, Н.И. Даниленко, И.А. Косско // Наноструктурное материаловедение. — 2008. — № 1. — С. 52-58. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-12764
record_format dspace
spelling Оноприенко, А.А.
Даниленко, Н.И.
Косско, И.А.
2010-10-21T14:21:07Z
2010-10-21T14:21:07Z
2008
Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь / А.А. Оноприенко, Н.И. Даниленко, И.А. Косско // Наноструктурное материаловедение. — 2008. — № 1. — С. 52-58. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.
1996-9988
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/12764
53.216.2
Тонкая легированная медью (8 %, атомная доля Cu) углеродная пленка нанесена магнетронным распылением на постоянном токе в аргоновой плазме составной (графит+медь) мишени на подложку из монокристаллического (100) NaCl при комнатной температуре. Эволюция микроструктуры пленки при отжиге в вакууме при 600 °С исследована методами просвечивающей электронной микроскопии и электронографии. Осажденная пленка была аморфной с равномерным распределением атомов меди в объеме пленки. Отжиг привел к образованию ансамбля медных частиц в пленке с последующей их коалесценцией по диффузионному механизму, в результате чего плотность частиц уменьшалась, а их средний размер увеличивался со временем отжига. Коалесценция осуществлялась путем смешанного механизма объемной и поверхностной диффузии атомов меди в углеродной пленке, содержащей большое количество структурных дефектов, вследствие чего средний размер частиц в ансамбле изменялся по закону R^5 ~ t
Тонка легована міддю (8 %, атомна частка Cu) вуглецева плівка нанесена магнетронним розпиленням на постійному струмі в аргоновій плазмі складової (графіт + мідь) мішені на підкладку з монокристалічного (100) NaCl за кімнатної температури. Еволюція мікроструктури плівки при відпалі у вакуумі при 600 °С досліджена методами просвітлювальної електронної мікроскопії та електронографії. Нанесена плівка була аморфною з рівномірним розподілом атомів міді в об’ємі плівки. Відпал призвів до утворення ансамблю мідних частинок у плівці з наступною їх коалесценцією за дифузійним механізмом, у результаті чого щільність частинок зменшувалась, а їх середній розмір зростав із часом відпалу. Коалесценція відбувалася шляхом змішаного механізму об’ємної та поверхневої дифузії атомів міді у вуглецевій плівці, яка вміщувала велику кількість структурних дефектів, унаслідок чого середній розмір частинок в ансамблі змінювався за законом R^5 ~ t.
Thin copper-doped (8 at. % Cu) carbon film was deposited by d. c. magnetron sputtering of composite graphite/copper target in argon plasma. The evolution of film structure on annealing at 600 °C in a vacuum has been studied by transmission electron microscopy and electron diffraction. The as-deposited film was amorphous with copper atoms uniformly distributed over the film volume. Annealing resulted in precipitation of copper particles within carbon film and accompanied by changes in the ensemble of copper particles due to diffusion coalescence: the density of copper particles decreased and particle average size increased with annealing time. The coalescence occurred by the mixed mechanism of bulk and surface diffusion of copper atoms within carbon film that contained a large number of structural defects. As a result, the mean radius of copper particles in ensemble changed as R^5 ~ t.
ru
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
Тонкие пленки и другие двумерные объекты
Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
spellingShingle Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
Оноприенко, А.А.
Даниленко, Н.И.
Косско, И.А.
Тонкие пленки и другие двумерные объекты
title_short Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
title_full Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
title_fullStr Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
title_full_unstemmed Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
title_sort структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь
author Оноприенко, А.А.
Даниленко, Н.И.
Косско, И.А.
author_facet Оноприенко, А.А.
Даниленко, Н.И.
Косско, И.А.
topic Тонкие пленки и другие двумерные объекты
topic_facet Тонкие пленки и другие двумерные объекты
publishDate 2008
language Russian
publisher Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
format Article
description Тонкая легированная медью (8 %, атомная доля Cu) углеродная пленка нанесена магнетронным распылением на постоянном токе в аргоновой плазме составной (графит+медь) мишени на подложку из монокристаллического (100) NaCl при комнатной температуре. Эволюция микроструктуры пленки при отжиге в вакууме при 600 °С исследована методами просвечивающей электронной микроскопии и электронографии. Осажденная пленка была аморфной с равномерным распределением атомов меди в объеме пленки. Отжиг привел к образованию ансамбля медных частиц в пленке с последующей их коалесценцией по диффузионному механизму, в результате чего плотность частиц уменьшалась, а их средний размер увеличивался со временем отжига. Коалесценция осуществлялась путем смешанного механизма объемной и поверхностной диффузии атомов меди в углеродной пленке, содержащей большое количество структурных дефектов, вследствие чего средний размер частиц в ансамбле изменялся по закону R^5 ~ t Тонка легована міддю (8 %, атомна частка Cu) вуглецева плівка нанесена магнетронним розпиленням на постійному струмі в аргоновій плазмі складової (графіт + мідь) мішені на підкладку з монокристалічного (100) NaCl за кімнатної температури. Еволюція мікроструктури плівки при відпалі у вакуумі при 600 °С досліджена методами просвітлювальної електронної мікроскопії та електронографії. Нанесена плівка була аморфною з рівномірним розподілом атомів міді в об’ємі плівки. Відпал призвів до утворення ансамблю мідних частинок у плівці з наступною їх коалесценцією за дифузійним механізмом, у результаті чого щільність частинок зменшувалась, а їх середній розмір зростав із часом відпалу. Коалесценція відбувалася шляхом змішаного механізму об’ємної та поверхневої дифузії атомів міді у вуглецевій плівці, яка вміщувала велику кількість структурних дефектів, унаслідок чого середній розмір частинок в ансамблі змінювався за законом R^5 ~ t. Thin copper-doped (8 at. % Cu) carbon film was deposited by d. c. magnetron sputtering of composite graphite/copper target in argon plasma. The evolution of film structure on annealing at 600 °C in a vacuum has been studied by transmission electron microscopy and electron diffraction. The as-deposited film was amorphous with copper atoms uniformly distributed over the film volume. Annealing resulted in precipitation of copper particles within carbon film and accompanied by changes in the ensemble of copper particles due to diffusion coalescence: the density of copper particles decreased and particle average size increased with annealing time. The coalescence occurred by the mixed mechanism of bulk and surface diffusion of copper atoms within carbon film that contained a large number of structural defects. As a result, the mean radius of copper particles in ensemble changed as R^5 ~ t.
issn 1996-9988
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/12764
citation_txt Структурные изменения при отжиге в композиционных пленках системы углерод – медь / А.А. Оноприенко, Н.И. Даниленко, И.А. Косско // Наноструктурное материаловедение. — 2008. — № 1. — С. 52-58. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT onoprienkoaa strukturnyeizmeneniâpriotžigevkompozicionnyhplenkahsistemyuglerodmedʹ
AT danilenkoni strukturnyeizmeneniâpriotžigevkompozicionnyhplenkahsistemyuglerodmedʹ
AT kosskoia strukturnyeizmeneniâpriotžigevkompozicionnyhplenkahsistemyuglerodmedʹ
first_indexed 2025-12-07T13:32:17Z
last_indexed 2025-12-07T13:32:17Z
_version_ 1850856531073957888