Эффект Яна–Теллера и сдвиговые деформации решетки в твердых растворах Zn₁₋xМxSe

Методом дифракции тепловых нейтронов исследовано структурное состояние полупроводников Zn₁₋xNixSe (х = 0,0025), Zn₁₋xCrxSe (х = 0,0029). Обнаружены крупномасштабные сдвиговые смещения атомов решетки ZnSe, которые, как предполагается, индуцируются янтеллеровскими ионами Cr²⁺ и Ni²⁺. Представлены резу...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2007
Hauptverfasser: Соколов, В.И., Лончаков, А.Т., Подгорных, С.М., Дубинин, С.Ф., Теплоухов, С.Г., Пархоменко, В.Д., Груздев, Н.Б.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2007
Schriftenreihe:Физика низких температур
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127730
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Эффект Яна–Теллера и сдвиговые деформации решетки в твердых растворах Zn₁₋xМxSe / В.И. Соколов, А.Т. Лончаков, С.М. Подгорных, С.Ф. Дубинин, С.Г. Теплоухов, В.Д. Пархоменко, Н.Б. Груздев // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 2-3. — С. 276-281. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Методом дифракции тепловых нейтронов исследовано структурное состояние полупроводников Zn₁₋xNixSe (х = 0,0025), Zn₁₋xCrxSe (х = 0,0029). Обнаружены крупномасштабные сдвиговые смещения атомов решетки ZnSe, которые, как предполагается, индуцируются янтеллеровскими ионами Cr²⁺ и Ni²⁺. Представлены результаты исследования примесной тепло- емкости твердых растворов Zn₁₋xMxSe (M = Cr²⁺, Ni²⁺) в интервале температур 1,8–20 К. Описан и применен теплоемкостный метод для определения энергии внутрицентровых переходов в этих системах. Обсуждается роль эффекта Яна—Теллера в формировании низкоэнергетических возбужденных состояний 3d-ионов в ZnSe.