Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si
В интервале температур 4,2–300 К исследованы магнитные свойства планарных наноструктур Co/Si с различными номинальными толщинами магнитных (2–42 нм) и немагнитных (0,3–10 нм) слоистых составляющих. Установлено, что в присутствии слоев Si происходит уменьшение спонтанной намагниченности Со, изменен...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Физика низких температур |
|---|---|
| Дата: | 2007 |
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2007
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127750 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si / В.О. Васьковский, Г.С. Патрин, Д.А. Великанов, А.В. Свалов, Н.Н. Щеголева // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 4. — С. 439-445. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-127750 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Васьковский, В.О. Патрин, Г.С. Великанов, Д.А. Свалов, А.В. Щеголева, Н.Н. 2017-12-27T15:37:33Z 2017-12-27T15:37:33Z 2007 Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si / В.О. Васьковский, Г.С. Патрин, Д.А. Великанов, А.В. Свалов, Н.Н. Щеголева // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 4. — С. 439-445. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 75.70.–i, 75.75.+a, 75.70.Cn https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127750 В интервале температур 4,2–300 К исследованы магнитные свойства планарных наноструктур Co/Si с различными номинальными толщинами магнитных (2–42 нм) и немагнитных (0,3–10 нм) слоистых составляющих. Установлено, что в присутствии слоев Si происходит уменьшение спонтанной намагниченности Со, изменение ее температурной зависимости и модификация магнитного гистерезиса. Межслойное влияние интерпретировано как следствие диффу- зии Si в слои Со, которая приводит к образованию магнитонеоднородных приграничных интерфейсов с пониженной средней намагниченностью. Глубина интерфейсов зависит от номинальной толщины слоев Si и по оценкам может составлять до 1,6 нм. В модели гранулированной микроструктуры интерфейсов дано качественное объяснение особенностям намагничивания исследованных объектов под действием магнитного поля и температуры. Некоторые положения предложенной модели подтверждены результатами электронно-микроскопических наблюдений. В інтервалі температур 4,2–300 К досліджено магнітні властивості планарних наноструктур Co/Si з різними номінальними товщинами магнітних (2–42 нм) і немагнітних (0,3–10 нм) шаруватих складових. Установлено, що в присутності шарів Si відбувається зменшення спонтанної намагніченості Со, зміна її температурної залежності та модифікація магнітного гістерезису. Міжшаровий вплив інтерпретовано як наслідок дифузії Si у шари Со, що призводить до утворення магнітонеоднорідних примежових інтерфейсів зі зниженою середньою намагніченістю. Глибина інтерфейсів залежить від номінальної товщини шарів Si та по оцінках може становити до 1,6 нм. У моделі гранульованої мікроструктури інтерфейсів дане якісне пояснення особливостям намагнічування досліджених об’єктів під дією магнітного поля та температури. Деякі положення запропонованої моделі підтверджено результатами електронно-мікроскопічних спостережень. The magnetic properties of planar Co/Si nanostructures with different nominal thicknesses of magnetic (2–42 nm) and non-magnetic (0.3–10 nm) layered components are studied in the temperature interval of 4.2–300 K. It is found that with the Si layers present, the spontaneous magnetization of Co decreases, its temperature dependence is changed, and the magnetic hysteresis is modified. The interlayer influence is explained by the Si diffusion into the Co layers, which results in the formation of magnetically non-uniform interfaces of lower average magnetization. The depth of the interfaces depends on nominal thickness of the Si layers and can be as high as 1.6 nm. The qualitative explanation of the magnetization process features of the investigated subjects influenced by magnetic field and temperature are explained qualitatively in the framework of the granular microstructure model. Some statements of the interlayer interaction model are supported by the results of electron microscopic studies. Работа выполнена при поддержке ФАО РНП.2.1.1. (проект 6945), РФФИ (грант № 05-02-16671-а) и интеграционного проекта УрО и СО РАН № 32-2006. Электронно-микроскопические наблюдения осуществлены в ЦКПЭМ ИФМ УрО РАН. ru Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України Физика низких температур Низкотемпеpатуpный магнетизм Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si Spontaneous magnetization and features of temperature-induced magnetization process in planar Co/Si nanostructures Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si |
| spellingShingle |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si Васьковский, В.О. Патрин, Г.С. Великанов, Д.А. Свалов, А.В. Щеголева, Н.Н. Низкотемпеpатуpный магнетизм |
| title_short |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si |
| title_full |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si |
| title_fullStr |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si |
| title_full_unstemmed |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si |
| title_sort |
спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур co/si |
| author |
Васьковский, В.О. Патрин, Г.С. Великанов, Д.А. Свалов, А.В. Щеголева, Н.Н. |
| author_facet |
Васьковский, В.О. Патрин, Г.С. Великанов, Д.А. Свалов, А.В. Щеголева, Н.Н. |
| topic |
Низкотемпеpатуpный магнетизм |
| topic_facet |
Низкотемпеpатуpный магнетизм |
| publishDate |
2007 |
| language |
Russian |
| container_title |
Физика низких температур |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Spontaneous magnetization and features of temperature-induced magnetization process in planar Co/Si nanostructures |
| description |
В интервале температур 4,2–300 К исследованы магнитные свойства планарных наноструктур Co/Si с различными номинальными толщинами магнитных (2–42 нм) и немагнитных
(0,3–10 нм) слоистых составляющих. Установлено, что в присутствии слоев Si происходит
уменьшение спонтанной намагниченности Со, изменение ее температурной зависимости и модификация магнитного гистерезиса. Межслойное влияние интерпретировано как следствие диффу-
зии Si в слои Со, которая приводит к образованию магнитонеоднородных приграничных интерфейсов с пониженной средней намагниченностью. Глубина интерфейсов зависит от номинальной
толщины слоев Si и по оценкам может составлять до 1,6 нм. В модели гранулированной микроструктуры интерфейсов дано качественное объяснение особенностям намагничивания исследованных объектов под действием магнитного поля и температуры. Некоторые положения предложенной модели подтверждены результатами электронно-микроскопических наблюдений.
В інтервалі температур 4,2–300 К досліджено магнітні властивості планарних наноструктур
Co/Si з різними номінальними товщинами магнітних (2–42 нм) і немагнітних (0,3–10 нм) шаруватих складових. Установлено, що в присутності шарів Si відбувається зменшення спонтанної намагніченості Со, зміна її температурної залежності та модифікація магнітного гістерезису. Міжшаровий вплив інтерпретовано як наслідок дифузії Si у шари Со, що призводить до утворення
магнітонеоднорідних примежових інтерфейсів зі зниженою середньою намагніченістю. Глибина
інтерфейсів залежить від номінальної товщини шарів Si та по оцінках може становити до 1,6 нм.
У моделі гранульованої мікроструктури інтерфейсів дане якісне пояснення особливостям намагнічування досліджених об’єктів під дією магнітного поля та температури. Деякі положення
запропонованої моделі підтверджено результатами електронно-мікроскопічних спостережень.
The magnetic properties of planar Co/Si
nanostructures with different nominal thicknesses
of magnetic (2–42 nm) and non-magnetic (0.3–10
nm) layered components are studied in the temperature
interval of 4.2–300 K. It is found that
with the Si layers present, the spontaneous magnetization
of Co decreases, its temperature dependence
is changed, and the magnetic hysteresis
is modified. The interlayer influence is explained
by the Si diffusion into the Co layers, which results
in the formation of magnetically non-uniform
interfaces of lower average magnetization.
The depth of the interfaces depends on nominal
thickness of the Si layers and can be as high as
1.6 nm. The qualitative explanation of the magnetization
process features of the investigated
subjects influenced by magnetic field and temperature
are explained qualitatively in the framework
of the granular microstructure model.
Some statements of the interlayer interaction
model are supported by the results of electron
microscopic studies.
|
| issn |
0132-6414 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127750 |
| citation_txt |
Спонтанная намагниченность и особенности термоинициированного намагничивания планарных наноструктур Co/Si / В.О. Васьковский, Г.С. Патрин, Д.А. Великанов, А.В. Свалов, Н.Н. Щеголева // Физика низких температур. — 2007. — Т. 33, № 4. — С. 439-445. — Бібліогр.: 9 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT vasʹkovskiivo spontannaânamagničennostʹiosobennostitermoiniciirovannogonamagničivaniâplanarnyhnanostrukturcosi AT patrings spontannaânamagničennostʹiosobennostitermoiniciirovannogonamagničivaniâplanarnyhnanostrukturcosi AT velikanovda spontannaânamagničennostʹiosobennostitermoiniciirovannogonamagničivaniâplanarnyhnanostrukturcosi AT svalovav spontannaânamagničennostʹiosobennostitermoiniciirovannogonamagničivaniâplanarnyhnanostrukturcosi AT ŝegolevann spontannaânamagničennostʹiosobennostitermoiniciirovannogonamagničivaniâplanarnyhnanostrukturcosi AT vasʹkovskiivo spontaneousmagnetizationandfeaturesoftemperatureinducedmagnetizationprocessinplanarcosinanostructures AT patrings spontaneousmagnetizationandfeaturesoftemperatureinducedmagnetizationprocessinplanarcosinanostructures AT velikanovda spontaneousmagnetizationandfeaturesoftemperatureinducedmagnetizationprocessinplanarcosinanostructures AT svalovav spontaneousmagnetizationandfeaturesoftemperatureinducedmagnetizationprocessinplanarcosinanostructures AT ŝegolevann spontaneousmagnetizationandfeaturesoftemperatureinducedmagnetizationprocessinplanarcosinanostructures |
| first_indexed |
2025-12-07T18:54:23Z |
| last_indexed |
2025-12-07T18:54:23Z |
| _version_ |
1850876796844638208 |