Метод моделирования точечных источников излучения для устройства ШД

Предложен метод моделирования процесса измерений при помощи устройства ШД (шар детекторный) с учетом свойств симметрии. Представлен последовательный алгоритм моделирования нескольких источников излучения. Показано, что результаты моделирования имеют хорошее согласие с калибровочными измерениями. Зап...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Проблеми безпеки атомних електростанцій і Чорнобиля
Datum:2006
Hauptverfasser: Батий, В.Г., Федорченко, Д.В., Прохорец, И.М., Прохорец, С.М., Хажмурадов, М.А.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Інститут проблем безпеки атомних електростанцій НАН України 2006
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/127923
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Метод моделирования точечных источников излучения для устройства ШД / В.Г. Батий, Д.В. Федорченко, И.М. Прохорец, С.М. Прохорец, М.А. Хажмурадов // Проблеми безпеки атомних електростанцій і Чорнобиля: наук.-техн. зб. — 2006. — Вип. 6. — С. 131-136. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Предложен метод моделирования процесса измерений при помощи устройства ШД (шар детекторный) с учетом свойств симметрии. Представлен последовательный алгоритм моделирования нескольких источников излучения. Показано, что результаты моделирования имеют хорошее согласие с калибровочными измерениями. Запропоновано метод моделювання процесу вимірювань за допомогою пристрою ШД (шар детекторний) з рахуванням властивостей симетрії. Представлено послідовний алгоритм моделювання процедури вимірювань за наявності декількох джерел випромінювання. Показано, що результати моделювання добре узгоджуються з калібрувальними вимірюваннями. Method for Sh-D device measurements simulation with account for symmetry properties is proposed. Exact algorithm for simulation of measurements procedure with multiple radiation sources developed. Modelling results are shown to have perfect agreement with calibration measurement.
ISSN:1813-3584