Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии

Исследована спектральная плотность шума магнитного потока SФ¹/²(f) ВТСП ВЧ сквидов с частотой накачки 390-457 МГц в трехслойном пермаллоевом и сверхпроводящем экранах. Сверхпроводящий интерферометр, имеющий внутренний размер контура квантования 100´100 мкм, изготовлен по тонкопленочной технологии с...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:2003
Hauptverfasser: Хвостов, С.С., Тимофеев, В.П., Гарбуз, А.С., Шнырков, В.И.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2003
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/128793
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Высокочастотный ВТСП сквид для магнитной микроскопии / С.С. Хвостов, В.П. Тимофеев, А.С. Гарбуз, В.И. Шнырков // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 2. — С. 211-215. — Бібліогр.: 11. назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine