Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов <u²>¹/² в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×10³ до 2×10⁴ атомов/кластер. Установлено, что п...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Физика низких температур |
|---|---|
| Datum: | 2003 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2003
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/128835 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона / В.В. Еременко, С.И. Коваленко, Д.Д. Солнышкин // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 4. — С. 469-472. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-128835 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Еременко, В.В. Коваленко, С.И. Солнышкин, Д.Д. 2018-01-14T09:50:38Z 2018-01-14T09:50:38Z 2003 Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона / В.В. Еременко, С.И. Коваленко, Д.Д. Солнышкин // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 4. — С. 469-472. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. 0132-6414 PACS: 61.46+w, 81.10.Aj https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/128835 С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов <u²>¹/² в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×10³ до 2×10⁴ атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров <u²>¹/² увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N≥4×10³ атомов/кластер увеличение <u²>¹/² при уменьшении N обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N≤4×10³ атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту <u²>¹/². The size dependence of the rms amplitude <u²>¹/² of the atoms in free clusters of krypton is determined for the first time, by an electron diffraction technique. The mean size N of the clusters formed in supersonic jets of krypton varied from 1×10³ to 2×10⁴ atoms/cluster. It is found that <u²>¹/² increases with decreasing cluster size. A comparison of the dependence observed in experiment with that calculated with allowance for the fractional contribution of surface atoms shows that for clusters with N≥4×10³ atoms/cluster the increase of <u²>¹/² with decreasing N̄ is due solely to the growth of the relative number of surface atoms. The correlation between the calculation and experiment vanishes when N≤4×10³ atoms/cluster. In that case the experimental values are considerably higher than the calculated value, a circumstance which indicates that in small aggregations there are other factors besides the surface which contribute to the growth of <u²>¹/². За допомогою електронографічної методики вперше визначено розмірну залежність середньоквадратичної амплітуди атомів <u²>¹/² у вільних кластерах криптону. Середній розмір кластерів N , сформованих в надзвукових струменях криптону, змінювався від 1×10³ до 2×10⁴ атомів/кластер. Встановлено, що при зменшенні розміру кластерів <u²>¹/² збільшується. Порівняння залежності, яка спостерігалась, з розрахунковою, що ураховує частковий внесок поверхневих атомів, показало, що для кластерів з N≥4×10³ атомів/кластер збільшення <u²>¹/² при зменшенні N обумовлене лише зростанням відносної кількості поверхневих атомів. Кореляція між розрахунком і експериментом зникає, коли N≤4×10³ атомів/кластер. В цьому випадку експериментальні значення помітно перевищують розрахункові, вказуючи тим саме на те, що в малих агрегаціях окрім поверхні діють також і інші фактори, які сприяють зростанню <u²>¹/². Авторы выражают благодарность Э.Т. Верховцевой и В.Н. Самоварову за полезное обсуждение результатов работы. ru Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України Физика низких температур Кpаткие сообщения Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона Electron diffraction study of the rms displacements of the atoms in free clusters of krypton Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона |
| spellingShingle |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона Еременко, В.В. Коваленко, С.И. Солнышкин, Д.Д. Кpаткие сообщения |
| title_short |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона |
| title_full |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона |
| title_fullStr |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона |
| title_full_unstemmed |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона |
| title_sort |
электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона |
| author |
Еременко, В.В. Коваленко, С.И. Солнышкин, Д.Д. |
| author_facet |
Еременко, В.В. Коваленко, С.И. Солнышкин, Д.Д. |
| topic |
Кpаткие сообщения |
| topic_facet |
Кpаткие сообщения |
| publishDate |
2003 |
| language |
Russian |
| container_title |
Физика низких температур |
| publisher |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Electron diffraction study of the rms displacements of the atoms in free clusters of krypton |
| description |
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов <u²>¹/² в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×10³ до 2×10⁴ атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров <u²>¹/² увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N≥4×10³ атомов/кластер увеличение <u²>¹/² при уменьшении N обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N≤4×10³ атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту <u²>¹/².
The size dependence of the rms amplitude <u²>¹/² of the atoms in free clusters of krypton is determined for the first time, by an electron diffraction technique. The mean size N of the clusters formed in supersonic jets of krypton varied from 1×10³ to 2×10⁴ atoms/cluster. It is found that <u²>¹/² increases with decreasing cluster size. A comparison of the dependence observed in experiment with that calculated with allowance for the fractional contribution of surface atoms shows that for clusters with N≥4×10³ atoms/cluster the increase of <u²>¹/² with decreasing N̄ is due solely to the growth of the relative number of surface atoms. The correlation between the calculation and experiment vanishes when N≤4×10³ atoms/cluster. In that case the experimental values are considerably higher than the calculated value, a circumstance which indicates that in small aggregations there are other factors besides the surface which contribute to the growth of <u²>¹/².
За допомогою електронографічної методики вперше визначено розмірну залежність середньоквадратичної амплітуди атомів <u²>¹/² у вільних кластерах криптону. Середній розмір кластерів N , сформованих в надзвукових струменях криптону, змінювався від 1×10³ до 2×10⁴ атомів/кластер. Встановлено, що при зменшенні розміру кластерів <u²>¹/² збільшується. Порівняння залежності, яка спостерігалась, з розрахунковою, що ураховує частковий внесок поверхневих атомів, показало, що для кластерів з N≥4×10³ атомів/кластер збільшення <u²>¹/² при зменшенні N обумовлене лише зростанням відносної кількості поверхневих атомів. Кореляція між розрахунком і експериментом зникає, коли N≤4×10³ атомів/кластер. В цьому випадку експериментальні значення помітно перевищують розрахункові, вказуючи тим саме на те, що в малих агрегаціях окрім поверхні діють також і інші фактори, які сприяють зростанню <u²>¹/².
|
| issn |
0132-6414 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/128835 |
| citation_txt |
Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона / В.В. Еременко, С.И. Коваленко, Д.Д. Солнышкин // Физика низких температур. — 2003. — Т. 29, № 4. — С. 469-472. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |
| work_keys_str_mv |
AT eremenkovv élektronografičeskoeissledovaniesrednekvadratičnyhsmeŝeniiatomovvsvobodnyhklasterahkriptona AT kovalenkosi élektronografičeskoeissledovaniesrednekvadratičnyhsmeŝeniiatomovvsvobodnyhklasterahkriptona AT solnyškindd élektronografičeskoeissledovaniesrednekvadratičnyhsmeŝeniiatomovvsvobodnyhklasterahkriptona AT eremenkovv electrondiffractionstudyofthermsdisplacementsoftheatomsinfreeclustersofkrypton AT kovalenkosi electrondiffractionstudyofthermsdisplacementsoftheatomsinfreeclustersofkrypton AT solnyškindd electrondiffractionstudyofthermsdisplacementsoftheatomsinfreeclustersofkrypton |
| first_indexed |
2025-11-29T05:09:59Z |
| last_indexed |
2025-11-29T05:09:59Z |
| _version_ |
1850854542033289216 |