Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe

Экспериментально изучена квантовая емкость, напрямую характеризующая плотность состояний высокоподвижных дираковских двумерных состояний, образующихся на поверхности напряженной пленки HgTe.
 Показано, что наблюдаемые в магнитоемкости квантовые осцилляции, в отличие от осцилляций в магнитотр...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Физика низких температур
Datum:2017
Hauptverfasser: Козлов, Д.А., Bauer, D., Ziegler, J., Fischer, R., Савченко, М.Л., Квон, З.Д., Михайлов, Н.Н., Дворецкий, С.А., Weiss, D.
Format: Artikel
Sprache:Russisch
Veröffentlicht: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 2017
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/129432
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe / Д.А. Козлов, D. Bauer, J. Ziegler, R. Fischer, М.Л. Савченко, З.Д. Квон, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, D. Weiss // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 4. — С. 537-545. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862560704351961088
author Козлов, Д.А.
Bauer, D.
Ziegler, J.
Fischer, R.
Савченко, М.Л.
Квон, З.Д.
Михайлов, Н.Н.
Дворецкий, С.А.
Weiss, D.
author_facet Козлов, Д.А.
Bauer, D.
Ziegler, J.
Fischer, R.
Савченко, М.Л.
Квон, З.Д.
Михайлов, Н.Н.
Дворецкий, С.А.
Weiss, D.
citation_txt Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe / Д.А. Козлов, D. Bauer, J. Ziegler, R. Fischer, М.Л. Савченко, З.Д. Квон, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, D. Weiss // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 4. — С. 537-545. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Физика низких температур
description Экспериментально изучена квантовая емкость, напрямую характеризующая плотность состояний высокоподвижных дираковских двумерных состояний, образующихся на поверхности напряженной пленки HgTe.
 Показано, что наблюдаемые в магнитоемкости квантовые осцилляции, в отличие от осцилляций в магнитотранспорте, где вклад дают все существующие типы носителей, соответствуют электронам на верхней поверхности пленки. Таким образом, емкостная спектроскопия является селективным методом для исследования свойств отдельной топологической поверхности даже в условиях большого количества объемных
 носителей. Благодаря этой особенности впервые получены данные о фазовом сдвиге осцилляций Шубникова–де Гааза, часто ассоциируемом с фазой Берри, для отдельного дираковского конуса, а также получена зависимость величины сдвига от положения уровня Ферми. Експериментально вивчено квантову ємність, яка безпосередньо характеризує щільність станів високорухливих діраківських двовимірних станів, що утворюються на поверхні напруженої плівки HgTe. Показано, що квантові осциляції магнітоємності, які спостерігаються, на відміну від осциляцій в магнітотранспорті, де внесок дають всі існуючі типи носіїв, відповідають електронам на верхній поверхні плівки. Таким
 чином, ємнісна спектроскопія є селективним методом для дослідження властивостей окремої топологічної
 поверхні навіть в умовах великої кількості об'ємних носіїв. Завдяки цій особливості вперше отримано дані
 про фазовий зсув осциляцій Шубнікова–де Гааза, який часто асоціюється з фазою Беррі, для окремого діраківського конуса, а також отримано залежність цієї величини від положення рівня Фермі. The quantum capacitance that directly characterizes the density of states of highly mobile Dirac two-dimensional states formed on the surface of a stressed HgTe film is studied experimentally. It is shown that, as opposed to the oscillations in the magnetotransport to which all the existing types of carriers contribute, the quantum oscillations observed in the magnetic capacitance correspond to electrons on the upper surface of the film. Thus, capacitance spectroscopy is a selective technique for studying the properties of an individual topological surface, even when a large number of bulk carriers are present. Because of this feature, for the first time we have obtained data on the phase shift in the Shubnikov-de Haas oscillations usually associated with the Berry phase for an isolated Dirac cone and found its dependence on the location of the Fermi level.
first_indexed 2025-11-25T23:07:42Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-129432
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 0132-6414
language Russian
last_indexed 2025-11-25T23:07:42Z
publishDate 2017
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
record_format dspace
spelling Козлов, Д.А.
Bauer, D.
Ziegler, J.
Fischer, R.
Савченко, М.Л.
Квон, З.Д.
Михайлов, Н.Н.
Дворецкий, С.А.
Weiss, D.
2018-01-19T16:44:55Z
2018-01-19T16:44:55Z
2017
Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe / Д.А. Козлов, D. Bauer, J. Ziegler, R. Fischer, М.Л. Савченко, З.Д. Квон, Н.Н. Михайлов, С.А. Дворецкий, D. Weiss // Физика низких температур. — 2017. — Т. 43, № 4. — С. 537-545. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.
0132-6414
PACS: 73.25.+i, 73.20.At, 73.43.–f
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/129432
Экспериментально изучена квантовая емкость, напрямую характеризующая плотность состояний высокоподвижных дираковских двумерных состояний, образующихся на поверхности напряженной пленки HgTe.
 Показано, что наблюдаемые в магнитоемкости квантовые осцилляции, в отличие от осцилляций в магнитотранспорте, где вклад дают все существующие типы носителей, соответствуют электронам на верхней поверхности пленки. Таким образом, емкостная спектроскопия является селективным методом для исследования свойств отдельной топологической поверхности даже в условиях большого количества объемных
 носителей. Благодаря этой особенности впервые получены данные о фазовом сдвиге осцилляций Шубникова–де Гааза, часто ассоциируемом с фазой Берри, для отдельного дираковского конуса, а также получена зависимость величины сдвига от положения уровня Ферми.
Експериментально вивчено квантову ємність, яка безпосередньо характеризує щільність станів високорухливих діраківських двовимірних станів, що утворюються на поверхні напруженої плівки HgTe. Показано, що квантові осциляції магнітоємності, які спостерігаються, на відміну від осциляцій в магнітотранспорті, де внесок дають всі існуючі типи носіїв, відповідають електронам на верхній поверхні плівки. Таким
 чином, ємнісна спектроскопія є селективним методом для дослідження властивостей окремої топологічної
 поверхні навіть в умовах великої кількості об'ємних носіїв. Завдяки цій особливості вперше отримано дані
 про фазовий зсув осциляцій Шубнікова–де Гааза, який часто асоціюється з фазою Беррі, для окремого діраківського конуса, а також отримано залежність цієї величини від положення рівня Фермі.
The quantum capacitance that directly characterizes the density of states of highly mobile Dirac two-dimensional states formed on the surface of a stressed HgTe film is studied experimentally. It is shown that, as opposed to the oscillations in the magnetotransport to which all the existing types of carriers contribute, the quantum oscillations observed in the magnetic capacitance correspond to electrons on the upper surface of the film. Thus, capacitance spectroscopy is a selective technique for studying the properties of an individual topological surface, even when a large number of bulk carriers are present. Because of this feature, for the first time we have obtained data on the phase shift in the Shubnikov-de Haas oscillations usually associated with the Berry phase for an isolated Dirac cone and found its dependence on the location of the Fermi level.
Работа поддержана Российским Научным Фондом
 (грант № 16-02-10041). D.B., R.F., J.Z. и D.W. благодарят
 DFG (SPP 1660) и Elite Network of Bavaria за поддержку.
ru
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
Физика низких температур
XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников
Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
Quantum capacitance of a three-dimensional topological insulator based on HgTe
Article
published earlier
spellingShingle Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
Козлов, Д.А.
Bauer, D.
Ziegler, J.
Fischer, R.
Савченко, М.Л.
Квон, З.Д.
Михайлов, Н.Н.
Дворецкий, С.А.
Weiss, D.
XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников
title Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
title_alt Quantum capacitance of a three-dimensional topological insulator based on HgTe
title_full Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
title_fullStr Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
title_full_unstemmed Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
title_short Квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе HgTe
title_sort квантовая емкость трехмерного топологического изолятора на основе hgte
topic XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников
topic_facet XXI Уральская международная зимняя школа по физике полупроводников
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/129432
work_keys_str_mv AT kozlovda kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT bauerd kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT zieglerj kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT fischerr kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT savčenkoml kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT kvonzd kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT mihailovnn kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT dvoreckiisa kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT weissd kvantovaâemkostʹtrehmernogotopologičeskogoizolâtoranaosnovehgte
AT kozlovda quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT bauerd quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT zieglerj quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT fischerr quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT savčenkoml quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT kvonzd quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT mihailovnn quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT dvoreckiisa quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte
AT weissd quantumcapacitanceofathreedimensionaltopologicalinsulatorbasedonhgte