Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем

• Veröffentlicht in: Металлофизика и новейшие технологии
• Datum: 2017
• Hauptverfasser: Молодкин, В.Б., Низкова, А.И., Богданов, Е.И., Лизунов, В.В., Толмачев, Н.Г., Дмитриев, С.В., Василик, Я.В., Лизунова, С.В., Карпов, А.Г., Войток, О.Г., Почекуев, В.П.
• Format: Artikel
• Sprache: Russian
• Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2017
• Schlagworte: Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/130321
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Физическая природа и методические основы диагностики с использованием эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей в кристаллах с нарушенным поверхностным слоем / В.Б. Молодкин, А.И. Низкова, Е.И. Богданов, В.В. Лизунов, Н.Г. Толмачев, С.В. Дмитриев, Я.В. Василик, С.В. Лизунова, А.Г. Карпов, О.Г. Войток, В.П. Почекуев // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 6. — С. 753-765. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.

Проведён детальный анализ физической природы и разработаны методические основы диагностики с использованием обнаруженного авторами эффекта асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции рентгеновских лучей, нормированной на азимутальную зависимость интегральной интенсивности динамической дифракции идеального кристалла. С учётом того, что эта асимметрия появляется за счёт интерференции лучей, дифрагированных в кинематически и динамически рассеивающих слоях, и растёт с увеличением толщины кинематически рассеивающего слоя, созданы и реализованы практически основы неразрушающего метода экспериментального определения толщин таких слоёв. Проведено детальну аналізу фізичної природи та розроблено методичні основи діягностики з використанням встановленого авторами ефекту асиметрії азимутальної залежности повної інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції Рентґенових променів, нормованої на азимутальну залежність інтеґральної інтенсивности динамічної дифракції ідеального кристалу. Із врахуванням того, що ця асиметрія з’являється за рахунок інтерференції променів, які дифрагують у шарах, що розсіюють кінематично й динамічно, та збільшується зі збільшенням товщини шару, що розсіює кінематично, створено і реалізовано практично основи неруйнівного методу експериментального визначення товщин таких шарів. Detailed analysis of physical nature is carried out and methodological grounds are developed for diagnostics with using discovered by authors effect of asymmetry of azimuthal dependence (AD) of total integrated intensity of dynamical diffraction (TIIDD) of x-rays normalized to the perfect-crystal TIIDD AD. Allowing for this asymmetry appeared due to interference of beams diffracted in both kinematically and dynamically scattered layers and increased with increasing of kinematically scattered-layer thickness, the practical grounds of non-destructive methods for experimental determination of layer thickness are developed.