Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований

Проведены рентгеновские структурные исследования тонких плёнок TiN, полученных методом реактивного магнетронного распыления. Для уменьшения влияния высокочастотного шума и неоднородной фоновой интенсивности на форму дифракционных максимумов применена методика вейвлет-фильтрации с помощью семейства б...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2017
Hauptverfasser: Фодчук, И.М., Роман, Ю.Т., Баловсяк, С.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2017
Schriftenreihe:Металлофизика и новейшие технологии
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/130328
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований / И.М. Фодчук, Ю.Т. Роман, С.В. Баловсяк // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 7. — С. 855-863. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Проведены рентгеновские структурные исследования тонких плёнок TiN, полученных методом реактивного магнетронного распыления. Для уменьшения влияния высокочастотного шума и неоднородной фоновой интенсивности на форму дифракционных максимумов применена методика вейвлет-фильтрации с помощью семейства биортогональных вейвлетов. Это позволило значительно повысить точность определения периода решётки, размера зерна и значения микродеформации.