Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований
Проведены рентгеновские структурные исследования тонких плёнок TiN, полученных методом реактивного магнетронного распыления. Для уменьшения влияния высокочастотного шума и неоднородной фоновой интенсивности на форму дифракционных максимумов применена методика вейвлет-фильтрации с помощью семейства б...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Металлофизика и новейшие технологии |
|---|---|
| Datum: | 2017 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russisch |
| Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2017
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/130328 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований / И.М. Фодчук, Ю.Т. Роман, С.В. Баловсяк // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 7. — С. 855-863. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862556621447626752 |
|---|---|
| author | Фодчук, И.М. Роман, Ю.Т. Баловсяк, С.В. |
| author_facet | Фодчук, И.М. Роман, Ю.Т. Баловсяк, С.В. |
| citation_txt | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований / И.М. Фодчук, Ю.Т. Роман, С.В. Баловсяк // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 7. — С. 855-863. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Металлофизика и новейшие технологии |
| description | Проведены рентгеновские структурные исследования тонких плёнок TiN, полученных методом реактивного магнетронного распыления. Для уменьшения влияния высокочастотного шума и неоднородной фоновой интенсивности на форму дифракционных максимумов применена методика вейвлет-фильтрации с помощью семейства биортогональных вейвлетов. Это позволило значительно повысить точность определения периода решётки, размера зерна и значения микродеформации.
Проведено рентґенівські структурні дослідження тонких плівок TiN, одержаних методою реактивного магнетронного розпорошення. Для зменшення впливу високочастотного шуму та неоднорідної фонової інтенсивности на форму дифракційних максимумів застосовано методику вейвлет-фільтрації за допомогою сімейства біортогональних вейвлетів. Це уможливило значно підвищити точність визначення періоду ґратниці, розміру зерна та значення мікродеформації.
X-ray structural studies of thin TiN films obtained by reactive magnetron sputtering are carried out. The wavelet-filtration technique by means of a set of biorthogonal wavelets is used to reduce the influence of both high-frequency noise and non-uniform background intensity on the shape of diffraction maxima. It allows us to improve the accuracy of determination of lattice period, grain size, and value of microdeformation significantly.
|
| first_indexed | 2025-11-25T22:33:28Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-130328 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1024-1809 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-25T22:33:28Z |
| publishDate | 2017 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Фодчук, И.М. Роман, Ю.Т. Баловсяк, С.В. 2018-02-10T18:13:00Z 2018-02-10T18:13:00Z 2017 Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований / И.М. Фодчук, Ю.Т. Роман, С.В. Баловсяк // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 7. — С. 855-863. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. 1024-1809 PACS: 02.60.Gf, 07.85.-m, 42.30.Va, 61.05.cp, 61.72.Mm, 68.55.ag, 81.05.Hd DOI: doi.org/10.15407/mfint.39.07.0855 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/130328 Проведены рентгеновские структурные исследования тонких плёнок TiN, полученных методом реактивного магнетронного распыления. Для уменьшения влияния высокочастотного шума и неоднородной фоновой интенсивности на форму дифракционных максимумов применена методика вейвлет-фильтрации с помощью семейства биортогональных вейвлетов. Это позволило значительно повысить точность определения периода решётки, размера зерна и значения микродеформации. Проведено рентґенівські структурні дослідження тонких плівок TiN, одержаних методою реактивного магнетронного розпорошення. Для зменшення впливу високочастотного шуму та неоднорідної фонової інтенсивности на форму дифракційних максимумів застосовано методику вейвлет-фільтрації за допомогою сімейства біортогональних вейвлетів. Це уможливило значно підвищити точність визначення періоду ґратниці, розміру зерна та значення мікродеформації. X-ray structural studies of thin TiN films obtained by reactive magnetron sputtering are carried out. The wavelet-filtration technique by means of a set of biorthogonal wavelets is used to reduce the influence of both high-frequency noise and non-uniform background intensity on the shape of diffraction maxima. It allows us to improve the accuracy of determination of lattice period, grain size, and value of microdeformation significantly. ru Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Металлофизика и новейшие технологии Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований Новий підхід до аналізи Х-променевих дифрактограм на основі вейвлет-перетворів The New Approach to the Analysis of X-Ray Diffractograms Based on the Wavelet Transformations Article published earlier |
| spellingShingle | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований Фодчук, И.М. Роман, Ю.Т. Баловсяк, С.В. Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом |
| title | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований |
| title_alt | Новий підхід до аналізи Х-променевих дифрактограм на основі вейвлет-перетворів The New Approach to the Analysis of X-Ray Diffractograms Based on the Wavelet Transformations |
| title_full | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований |
| title_fullStr | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований |
| title_full_unstemmed | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований |
| title_short | Новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований |
| title_sort | новый подход к анализу рентгеновских дифрактограмм на основе вейвлет-преобразований |
| topic | Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом |
| topic_facet | Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/130328 |
| work_keys_str_mv | AT fodčukim novyipodhodkanalizurentgenovskihdifraktogrammnaosnoveveivletpreobrazovanii AT romanût novyipodhodkanalizurentgenovskihdifraktogrammnaosnoveveivletpreobrazovanii AT balovsâksv novyipodhodkanalizurentgenovskihdifraktogrammnaosnoveveivletpreobrazovanii AT fodčukim noviipídhíddoanalízihpromenevihdifraktogramnaosnovíveivletperetvorív AT romanût noviipídhíddoanalízihpromenevihdifraktogramnaosnovíveivletperetvorív AT balovsâksv noviipídhíddoanalízihpromenevihdifraktogramnaosnovíveivletperetvorív AT fodčukim thenewapproachtotheanalysisofxraydiffractogramsbasedonthewavelettransformations AT romanût thenewapproachtotheanalysisofxraydiffractogramsbasedonthewavelettransformations AT balovsâksv thenewapproachtotheanalysisofxraydiffractogramsbasedonthewavelettransformations |