Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром

З метою створення статистичної динамічної теорії розсіяння випромінення у багатошарових системах з різними за недосконалостями структури та складом кристалічними й аморфними шарами в якості найбільш загального та головного елементу такої теорії побудовано узагальнену теоретичну модель когерентного р...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Металлофизика и новейшие технологии
Дата:2017
Автори: Дмітрієв, С.В., Лізунова, С.В., Толмачов, М.Г., Шелудченко, Б.В., Скакунова, О.С., Молодкін, В.Б., Лізунов, В.В., Голентус, І.Е., Карпов, А.Г., Войток, О.Г., Почекуєв, В.П., Репецький, С.П., Вишивана, І.Г., Скапа, Л.М., Барабаш, О.В., Веліховський, Г.О.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2017
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/130472
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Статистична теоретична модель динамічної Бреґґової дифракції в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром / С.В. Дмітрієв, С.В. Лізунова, М.Г. Толмачов, Б.В. Шелудченко, О.С. Скакунова, В.Б. Молодкін, В.В. Лізунов, І.Е. Голентус, А.Г. Карпов, О.Г. Войток, В.П. Почекуєв, С.П. Репецький, І. Г. Вишивана, Л.М. Скапа, О.В. Барабаш, Г.О. Веліховський // Металлофизика и новейшие технологии. — 2017. — Т. 39, № 12. — С. 1669-1691. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:З метою створення статистичної динамічної теорії розсіяння випромінення у багатошарових системах з різними за недосконалостями структури та складом кристалічними й аморфними шарами в якості найбільш загального та головного елементу такої теорії побудовано узагальнену теоретичну модель когерентного розсіяння в двошаровій кристалічній системі з аморфним поверхневим шаром і статистично розподіленими дефектами Кулонового типу в кожному шарі. Одержано вирази для когерентної складової відбивної здатности вказаної системи з використанням двох методів: методу підсумовування амплітуд і методу крайових умов, що уможливило встановити й описати механізм формування інтенсивности за рахунок ефектів багаторазовости розсіяння. Проведено аналіз одержаних результатів та їх адаптацію до деяких практично важливих випадків. С целью создания статистической динамической теории рассеяния излучения в многослойных системах с различными по несовершенствам структуры и составу кристаллическими и аморфными слоями в качестве наиболее общего и главного элемента такой теории построена обобщённая теоретическая модель когерентного рассеяния в двухслойной кристаллической системе с аморфным поверхностным слоем и статистически распределёнными дефектами кулоновского типа в каждом слое. Получены выражения для когерентной составляющей отражательной способности указанной системы с использованием двух методов: метода суммирования амплитуд и метода граничных условий, что позволило выявить и описать механизм формирования интенсивности за счёт эффектов многократности рассеяния. For the goal of the creating of statistical dynamical theory of x-ray scattering in multilayer systems of crystalline and amorphous layers with differences in both the structure imperfections and the composition, as a main element of such a theory, the generalized theoretical model of coherent scattering in two-layer crystalline system with amorphous subsurface layer and statistically distributed Coulomb-type defects in each layer is developed. The expressions for coherent component of mentioned-system reflectivity are obtained using two methods: the method of amplitudes’ summation and the method of boundary conditions. That allows revealing and describing the mechanism of intensity formation due to effects of multiple scattering.
ISSN:1024-1809