Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле

Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле

С целью создания новых высокоинформативных методов диагностики случайно распределенных наноразмерных дефектов (СРНД), которые не могут наблюдаться традиционными неразрушающими методами, такими, как рентгеновская топография, для которой такие наноразмерные в одном из измерений либо во всех трех измер...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Успехи физики металлов
Datum:2004
Hauptverfasser: Шпак, А.П., Молодкин, В.Б., Низкова, А.И.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2004
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133311
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле / А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, А.И. Низкова // Успехи физики металлов. — 2004. — Т. 5, № 1. — С. 51-86. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-133311
record_format dspace
spelling Шпак, А.П.
Молодкин, В.Б.
Низкова, А.И.
2018-05-22T19:36:17Z
2018-05-22T19:36:17Z
2004
Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле / А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, А.И. Низкова // Успехи физики металлов. — 2004. — Т. 5, № 1. — С. 51-86. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.
1608-1021
PACS: 61.10.Dp, 61.10.Kw, 61.46.+w, 61.72.Dd, 61.72.Ff, 81.70.Ex
DOI: https://doi.org/10.15407/ufm.05.01.051
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133311
С целью создания новых высокоинформативных методов диагностики случайно распределенных наноразмерных дефектов (СРНД), которые не могут наблюдаться традиционными неразрушающими методами, такими, как рентгеновская топография, для которой такие наноразмерные в одном из измерений либо во всех трех измерениях дефекты оказываются за пределами чувствительности метода, разработаны физические основы метода деформационных зависимостей полной интегральной отражательной способности (ПИОС), которая оказалась уникально чувствительной к СНРД.
З метою створення нових високоінформативних методів діягностики випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД), які не можна спостерігати традиційними неруйнівними методами, такими, як Рентґенова топографія, для якої такі нанорозмірні в одному з вимірів або в усіх трьох вимірах дефекти виявляються за межами чутливості методу, розроблено фізичні основи методу деформаційних залежностей повної інтеґральної відбивної здатности (ПІВЗ), яка виявилася унікально чутливою до СНРД.
With the purpose of development of the new high-informative diagnostic techniques for the determination of the randomly distributed nanoscale defects (RDND), which are invisible by tradition non-destructive methods such as the x-ray topography, for which such small defects in one dimension or in three dimensions are appeared outside the method sensitivity limits, the basic physics are developed for the method of the strain-dependent total integrated reflecting power (TIRP), which appears unique sensitive to RDND.
ru
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Успехи физики металлов
Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
Інтеґральна дифрактометрія нанорозмірних дефектів у пружньо зігненому монокристалі
Integral Diffractometry of Nanoscale Defects in an Elastically-Bent Single Crystal
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
spellingShingle Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
Шпак, А.П.
Молодкин, В.Б.
Низкова, А.И.
title_short Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
title_full Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
title_fullStr Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
title_full_unstemmed Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
title_sort интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
author Шпак, А.П.
Молодкин, В.Б.
Низкова, А.И.
author_facet Шпак, А.П.
Молодкин, В.Б.
Низкова, А.И.
publishDate 2004
language Russian
container_title Успехи физики металлов
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
format Article
title_alt Інтеґральна дифрактометрія нанорозмірних дефектів у пружньо зігненому монокристалі
Integral Diffractometry of Nanoscale Defects in an Elastically-Bent Single Crystal
description С целью создания новых высокоинформативных методов диагностики случайно распределенных наноразмерных дефектов (СРНД), которые не могут наблюдаться традиционными неразрушающими методами, такими, как рентгеновская топография, для которой такие наноразмерные в одном из измерений либо во всех трех измерениях дефекты оказываются за пределами чувствительности метода, разработаны физические основы метода деформационных зависимостей полной интегральной отражательной способности (ПИОС), которая оказалась уникально чувствительной к СНРД. З метою створення нових високоінформативних методів діягностики випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД), які не можна спостерігати традиційними неруйнівними методами, такими, як Рентґенова топографія, для якої такі нанорозмірні в одному з вимірів або в усіх трьох вимірах дефекти виявляються за межами чутливості методу, розроблено фізичні основи методу деформаційних залежностей повної інтеґральної відбивної здатности (ПІВЗ), яка виявилася унікально чутливою до СНРД. With the purpose of development of the new high-informative diagnostic techniques for the determination of the randomly distributed nanoscale defects (RDND), which are invisible by tradition non-destructive methods such as the x-ray topography, for which such small defects in one dimension or in three dimensions are appeared outside the method sensitivity limits, the basic physics are developed for the method of the strain-dependent total integrated reflecting power (TIRP), which appears unique sensitive to RDND.
issn 1608-1021
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133311
citation_txt Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле / А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, А.И. Низкова // Успехи физики металлов. — 2004. — Т. 5, № 1. — С. 51-86. — Бібліогр.: 27 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT špakap integralʹnaâdifraktometriânanorazmernyhdefektovvuprugoizognutommonokristalle
AT molodkinvb integralʹnaâdifraktometriânanorazmernyhdefektovvuprugoizognutommonokristalle
AT nizkovaai integralʹnaâdifraktometriânanorazmernyhdefektovvuprugoizognutommonokristalle
AT špakap íntegralʹnadifraktometríânanorozmírnihdefektívupružnʹozígnenomumonokristalí
AT molodkinvb íntegralʹnadifraktometríânanorozmírnihdefektívupružnʹozígnenomumonokristalí
AT nizkovaai íntegralʹnadifraktometríânanorozmírnihdefektívupružnʹozígnenomumonokristalí
AT špakap integraldiffractometryofnanoscaledefectsinanelasticallybentsinglecrystal
AT molodkinvb integraldiffractometryofnanoscaledefectsinanelasticallybentsinglecrystal
AT nizkovaai integraldiffractometryofnanoscaledefectsinanelasticallybentsinglecrystal
first_indexed 2025-12-07T13:36:42Z
last_indexed 2025-12-07T13:36:42Z
_version_ 1850856809777070080

Ähnliche Einträge