Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле
С целью создания новых высокоинформативных методов диагностики случайно распределенных наноразмерных дефектов (СРНД), которые не могут наблюдаться традиционными неразрушающими методами, такими, как рентгеновская топография, для которой такие наноразмерные в одном из измерений либо во всех трех измер...
Saved in:
| Published in: | Успехи физики металлов |
|---|---|
| Date: | 2004 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2004
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133311 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле / А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, А.И. Низкова // Успехи физики металлов. — 2004. — Т. 5, № 1. — С. 51-86. — Бібліогр.: 27 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862626130524110848 |
|---|---|
| author | Шпак, А.П. Молодкин, В.Б. Низкова, А.И. |
| author_facet | Шпак, А.П. Молодкин, В.Б. Низкова, А.И. |
| citation_txt | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле / А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, А.И. Низкова // Успехи физики металлов. — 2004. — Т. 5, № 1. — С. 51-86. — Бібліогр.: 27 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Успехи физики металлов |
| description | С целью создания новых высокоинформативных методов диагностики случайно распределенных наноразмерных дефектов (СРНД), которые не могут наблюдаться традиционными неразрушающими методами, такими, как рентгеновская топография, для которой такие наноразмерные в одном из измерений либо во всех трех измерениях дефекты оказываются за пределами чувствительности метода, разработаны физические основы метода деформационных зависимостей полной интегральной отражательной способности (ПИОС), которая оказалась уникально чувствительной к СНРД.
З метою створення нових високоінформативних методів діягностики випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД), які не можна спостерігати традиційними неруйнівними методами, такими, як Рентґенова топографія, для якої такі нанорозмірні в одному з вимірів або в усіх трьох вимірах дефекти виявляються за межами чутливості методу, розроблено фізичні основи методу деформаційних залежностей повної інтеґральної відбивної здатности (ПІВЗ), яка виявилася унікально чутливою до СНРД.
With the purpose of development of the new high-informative diagnostic techniques for the determination of the randomly distributed nanoscale defects (RDND), which are invisible by tradition non-destructive methods such as the x-ray topography, for which such small defects in one dimension or in three dimensions are appeared outside the method sensitivity limits, the basic physics are developed for the method of the strain-dependent total integrated reflecting power (TIRP), which appears unique sensitive to RDND.
|
| first_indexed | 2025-12-07T13:36:42Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-133311 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1608-1021 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T13:36:42Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Шпак, А.П. Молодкин, В.Б. Низкова, А.И. 2018-05-22T19:36:17Z 2018-05-22T19:36:17Z 2004 Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле / А.П. Шпак, В.Б. Молодкин, А.И. Низкова // Успехи физики металлов. — 2004. — Т. 5, № 1. — С. 51-86. — Бібліогр.: 27 назв. — рос. 1608-1021 PACS: 61.10.Dp, 61.10.Kw, 61.46.+w, 61.72.Dd, 61.72.Ff, 81.70.Ex DOI: https://doi.org/10.15407/ufm.05.01.051 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133311 С целью создания новых высокоинформативных методов диагностики случайно распределенных наноразмерных дефектов (СРНД), которые не могут наблюдаться традиционными неразрушающими методами, такими, как рентгеновская топография, для которой такие наноразмерные в одном из измерений либо во всех трех измерениях дефекты оказываются за пределами чувствительности метода, разработаны физические основы метода деформационных зависимостей полной интегральной отражательной способности (ПИОС), которая оказалась уникально чувствительной к СНРД. З метою створення нових високоінформативних методів діягностики випадково розподілених нанорозмірних дефектів (ВРНД), які не можна спостерігати традиційними неруйнівними методами, такими, як Рентґенова топографія, для якої такі нанорозмірні в одному з вимірів або в усіх трьох вимірах дефекти виявляються за межами чутливості методу, розроблено фізичні основи методу деформаційних залежностей повної інтеґральної відбивної здатности (ПІВЗ), яка виявилася унікально чутливою до СНРД. With the purpose of development of the new high-informative diagnostic techniques for the determination of the randomly distributed nanoscale defects (RDND), which are invisible by tradition non-destructive methods such as the x-ray topography, for which such small defects in one dimension or in three dimensions are appeared outside the method sensitivity limits, the basic physics are developed for the method of the strain-dependent total integrated reflecting power (TIRP), which appears unique sensitive to RDND. ru Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Успехи физики металлов Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле Інтеґральна дифрактометрія нанорозмірних дефектів у пружньо зігненому монокристалі Integral Diffractometry of Nanoscale Defects in an Elastically-Bent Single Crystal Article published earlier |
| spellingShingle | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле Шпак, А.П. Молодкин, В.Б. Низкова, А.И. |
| title | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле |
| title_alt | Інтеґральна дифрактометрія нанорозмірних дефектів у пружньо зігненому монокристалі Integral Diffractometry of Nanoscale Defects in an Elastically-Bent Single Crystal |
| title_full | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле |
| title_fullStr | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле |
| title_full_unstemmed | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле |
| title_short | Интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле |
| title_sort | интегральная дифрактометрия наноразмерных дефектов в упруго изогнутом монокристалле |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133311 |
| work_keys_str_mv | AT špakap integralʹnaâdifraktometriânanorazmernyhdefektovvuprugoizognutommonokristalle AT molodkinvb integralʹnaâdifraktometriânanorazmernyhdefektovvuprugoizognutommonokristalle AT nizkovaai integralʹnaâdifraktometriânanorazmernyhdefektovvuprugoizognutommonokristalle AT špakap íntegralʹnadifraktometríânanorozmírnihdefektívupružnʹozígnenomumonokristalí AT molodkinvb íntegralʹnadifraktometríânanorozmírnihdefektívupružnʹozígnenomumonokristalí AT nizkovaai íntegralʹnadifraktometríânanorozmírnihdefektívupružnʹozígnenomumonokristalí AT špakap integraldiffractometryofnanoscaledefectsinanelasticallybentsinglecrystal AT molodkinvb integraldiffractometryofnanoscaledefectsinanelasticallybentsinglecrystal AT nizkovaai integraldiffractometryofnanoscaledefectsinanelasticallybentsinglecrystal |