Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойни...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Успехи физики металлов |
|---|---|
| Дата: | 2001 |
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2001
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133377 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862566109387948032 |
|---|---|
| author | Устинов, А.И. Олиховская, Л.А. Ниепс, Ж.-К. Бернар, Ф. |
| author_facet | Устинов, А.И. Олиховская, Л.А. Ниепс, Ж.-К. Бернар, Ф. |
| citation_txt | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Успехи физики металлов |
| description | Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойниковых доменов моделировались с использованием геометрической, гауссовой и нормально-логарифмической функций. При определенных значениях параметров этих функций выявлены «критические» эффекты рассеяния, заключающиеся в превращении тетрагонального дублета в одиночный пик или в мультиплет. Показано, что каждая из характеристик профиля тетрагонального дублета зависит от нескольких параметров, характеризующих двойниковую микроструктуру кристалла, а также от степени тетрагональности.
Методом Монте Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів моделювались з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. При певних значеннях параметрів цих функцій виявлено «критичні» ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дублету в одиночний пік або в мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дублета залежить від кількох параметрів, що характеризують двійникову мікроструктуру кристалу, а також ступеню тетрагональності.
The intensity distributions of the X-rays scattered in the tetragonal single crystal, which represent a complex of the twin domains separated by the coherent parallel boundaries, are simulated. The calculations are performed by using the Monte Carlo method within the framework of a kinematical approach. The thickness distributions of the twin domains are defined according to the geometrical, Gaussian and log normal functions. ‘Critical’ effects of the X-ray scattering are found, namely there is transformation of the tetragonal doublet into singlet or multiplet. As demonstrated, each of characteristics of the tetragonal doublet profile depends on a few parameters of the twin microstructure of a crystal and cell tetragonality as well.
|
| first_indexed | 2025-11-26T00:08:30Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-133377 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1608-1021 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-11-26T00:08:30Z |
| publishDate | 2001 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Устинов, А.И. Олиховская, Л.А. Ниепс, Ж.-К. Бернар, Ф. 2018-05-24T18:02:57Z 2018-05-24T18:02:57Z 2001 Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос. 1608-1021 PACS: 61.10Dp, 61.10.Eq, 61.66.Fn, 61.72.Bb, 61.72.Ff, 61.72.Mm DOI: https://doi.org/10.15407/ufm.02.01.051 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133377 Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойниковых доменов моделировались с использованием геометрической, гауссовой и нормально-логарифмической функций. При определенных значениях параметров этих функций выявлены «критические» эффекты рассеяния, заключающиеся в превращении тетрагонального дублета в одиночный пик или в мультиплет. Показано, что каждая из характеристик профиля тетрагонального дублета зависит от нескольких параметров, характеризующих двойниковую микроструктуру кристалла, а также от степени тетрагональности. Методом Монте Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів моделювались з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. При певних значеннях параметрів цих функцій виявлено «критичні» ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дублету в одиночний пік або в мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дублета залежить від кількох параметрів, що характеризують двійникову мікроструктуру кристалу, а також ступеню тетрагональності. The intensity distributions of the X-rays scattered in the tetragonal single crystal, which represent a complex of the twin domains separated by the coherent parallel boundaries, are simulated. The calculations are performed by using the Monte Carlo method within the framework of a kinematical approach. The thickness distributions of the twin domains are defined according to the geometrical, Gaussian and log normal functions. ‘Critical’ effects of the X-ray scattering are found, namely there is transformation of the tetragonal doublet into singlet or multiplet. As demonstrated, each of characteristics of the tetragonal doublet profile depends on a few parameters of the twin microstructure of a crystal and cell tetragonality as well. ru Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Успехи физики металлов Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию Вплив двійникової мікроструктуриы кристалів з низькою тетрагональністю на дифрацію Influence of Twinning Microstructure of Crystals with Low Tetragonality on a X-Ray Diffraction Article published earlier |
| spellingShingle | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию Устинов, А.И. Олиховская, Л.А. Ниепс, Ж.-К. Бернар, Ф. |
| title | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию |
| title_alt | Вплив двійникової мікроструктуриы кристалів з низькою тетрагональністю на дифрацію Influence of Twinning Microstructure of Crystals with Low Tetragonality on a X-Ray Diffraction |
| title_full | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию |
| title_fullStr | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию |
| title_full_unstemmed | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию |
| title_short | Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию |
| title_sort | влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133377 |
| work_keys_str_mv | AT ustinovai vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû AT olihovskaâla vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû AT niepsžk vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû AT bernarf vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû AT ustinovai vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû AT olihovskaâla vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû AT niepsžk vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû AT bernarf vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû AT ustinovai influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction AT olihovskaâla influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction AT niepsžk influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction AT bernarf influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction |