Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию

Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойни...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Успехи физики металлов
Date:2001
Main Authors: Устинов, А.И., Олиховская, Л.А., Ниепс, Ж.-К., Бернар, Ф.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2001
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133377
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862566109387948032
author Устинов, А.И.
Олиховская, Л.А.
Ниепс, Ж.-К.
Бернар, Ф.
author_facet Устинов, А.И.
Олиховская, Л.А.
Ниепс, Ж.-К.
Бернар, Ф.
citation_txt Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Успехи физики металлов
description Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойниковых доменов моделировались с использованием геометрической, гауссовой и нормально-логарифмической функций. При определенных значениях параметров этих функций выявлены «критические» эффекты рассеяния, заключающиеся в превращении тетрагонального дублета в одиночный пик или в мультиплет. Показано, что каждая из характеристик профиля тетрагонального дублета зависит от нескольких параметров, характеризующих двойниковую микроструктуру кристалла, а также от степени тетрагональности. Методом Монте Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів моделювались з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. При певних значеннях параметрів цих функцій виявлено «критичні» ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дублету в одиночний пік або в мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дублета залежить від кількох параметрів, що характеризують двійникову мікроструктуру кристалу, а також ступеню тетрагональності. The intensity distributions of the X-rays scattered in the tetragonal single crystal, which represent a complex of the twin domains separated by the coherent parallel boundaries, are simulated. The calculations are performed by using the Monte Carlo method within the framework of a kinematical approach. The thickness distributions of the twin domains are defined according to the geometrical, Gaussian and log normal functions. ‘Critical’ effects of the X-ray scattering are found, namely there is transformation of the tetragonal doublet into singlet or multiplet. As demonstrated, each of characteristics of the tetragonal doublet profile depends on a few parameters of the twin microstructure of a crystal and cell tetragonality as well.
first_indexed 2025-11-26T00:08:30Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-133377
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1608-1021
language Russian
last_indexed 2025-11-26T00:08:30Z
publishDate 2001
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
record_format dspace
spelling Устинов, А.И.
Олиховская, Л.А.
Ниепс, Ж.-К.
Бернар, Ф.
2018-05-24T18:02:57Z
2018-05-24T18:02:57Z
2001
Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию / А.И. Устинов, Л.А. Олиховская, Ж.-К. Ниепс, Ф. Бернар // Успехи физики металлов. — 2001. — Т. 2, № 1. — С. 51-84. — Бібліогр.: 42 назв. — рос.
1608-1021
PACS: 61.10Dp, 61.10.Eq, 61.66.Fn, 61.72.Bb, 61.72.Ff, 61.72.Mm
DOI: https://doi.org/10.15407/ufm.02.01.051
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133377
Методом Монте Карло в кинематическом приближении смоделированы распределения интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных монокристаллами с тетрагональной решеткой, которые представляют собой комплекс двойниковых доменов, разделенных параллельными когерентными границами. Распределения толщин двойниковых доменов моделировались с использованием геометрической, гауссовой и нормально-логарифмической функций. При определенных значениях параметров этих функций выявлены «критические» эффекты рассеяния, заключающиеся в превращении тетрагонального дублета в одиночный пик или в мультиплет. Показано, что каждая из характеристик профиля тетрагонального дублета зависит от нескольких параметров, характеризующих двойниковую микроструктуру кристалла, а также от степени тетрагональности.
Методом Монте Карло в кінематичному наближенні змодельовано розподіли інтенсивності рентгенівських променів, розсіяних монокристалами з тетрагональною граткою, які являють собою комплекс двійникових доменів, розділених паралельними когерентними границями. Розподіли товщин двійникових доменів моделювались з використанням геометричної, гаусової та нормально-логарифмічної функцій. При певних значеннях параметрів цих функцій виявлено «критичні» ефекти розсіяння, що являють собою перетворення тетрагонального дублету в одиночний пік або в мультиплет. Показано, що кожна з характеристик профілю тетрагонального дублета залежить від кількох параметрів, що характеризують двійникову мікроструктуру кристалу, а також ступеню тетрагональності.
The intensity distributions of the X-rays scattered in the tetragonal single crystal, which represent a complex of the twin domains separated by the coherent parallel boundaries, are simulated. The calculations are performed by using the Monte Carlo method within the framework of a kinematical approach. The thickness distributions of the twin domains are defined according to the geometrical, Gaussian and log normal functions. ‘Critical’ effects of the X-ray scattering are found, namely there is transformation of the tetragonal doublet into singlet or multiplet. As demonstrated, each of characteristics of the tetragonal doublet profile depends on a few parameters of the twin microstructure of a crystal and cell tetragonality as well.
ru
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
Успехи физики металлов
Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
Вплив двійникової мікроструктуриы кристалів з низькою тетрагональністю на дифрацію
Influence of Twinning Microstructure of Crystals with Low Tetragonality on a X-Ray Diffraction
Article
published earlier
spellingShingle Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
Устинов, А.И.
Олиховская, Л.А.
Ниепс, Ж.-К.
Бернар, Ф.
title Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
title_alt Вплив двійникової мікроструктуриы кристалів з низькою тетрагональністю на дифрацію
Influence of Twinning Microstructure of Crystals with Low Tetragonality on a X-Ray Diffraction
title_full Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
title_fullStr Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
title_full_unstemmed Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
title_short Влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
title_sort влияние двойниковой микроструктуры кристаллов с низкой тетрагональностью на дифрацию
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133377
work_keys_str_mv AT ustinovai vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû
AT olihovskaâla vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû
AT niepsžk vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû
AT bernarf vliâniedvoinikovoimikrostrukturykristallovsnizkoitetragonalʹnostʹûnadifraciû
AT ustinovai vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû
AT olihovskaâla vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû
AT niepsžk vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû
AT bernarf vplivdvíinikovoímíkrostrukturiykristalívznizʹkoûtetragonalʹnístûnadifracíû
AT ustinovai influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction
AT olihovskaâla influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction
AT niepsžk influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction
AT bernarf influenceoftwinningmicrostructureofcrystalswithlowtetragonalityonaxraydiffraction