Інтелектуальна система автоматизованої мікроскопії аналізу гістологічних та цитологічних зображень

• Veröffentlicht in: Штучний інтелект
• Datum: 2017
• Hauptverfasser: Березький, О.М., Піцун, О.Й., Лящинський, П.Б., Мельник, Г.М.
• Format: Artikel
• Sprache: Ukrainian
• Veröffentlicht: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2017
• Schlagworte: Прикладні інтелектуальні технології та системи
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/133671
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Інтелектуальна система автоматизованої мікроскопії аналізу гістологічних та цитологічних зображень / О.М. Березький, О.Й. Піцун, П.Б. Лящинський, П.Б. Лящинський, Г.М. Мельник // Штучний інтелект. — 2017. — № 2. — С. 129-141. — Бібліогр.: 9 назв. — укр.

У статті проведено порівняльний аналіз систем автоматизованої мікроскопії на низькому, середньому та високому рівнях комп’ютерного зору. Спроектовано та програмно реалізовано інтелектуальну систему діагностування. Перевагою системи, порівняно з аналогами, є наявність чотирьох рівнів доступу, адаптив...