Thin film Si:Eu and Si:Y composites
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Functional Materials |
|---|---|
| Дата: | 2010 |
| Автори: | Koval, V.M., Chechuga, Yu.S. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2010
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134173 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Thin film Si:Eu and Si:Y composites / V.M. Koval, Yu.S. Chechuga // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 85-89. — Бібліогр.: 9 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Structure of Cu-In-Se thin films of variable composition
за авторством: Grigorov, S.N., та інші
Опубліковано: (2009) -
The structure, phase and chemical composition of CZTSe thin films
за авторством: Opanasyuk, A.S., та інші
Опубліковано: (2014) -
Radiation resistance of composite scintillators containing grains of Y₂SiO₅:Ce or Y₃Al₅O₁₂:Ce obtained by solid-phase synthesis
за авторством: Boyarintsev, A.Yu., та інші
Опубліковано: (2018) -
Formation and thermal stability of NiSi phase in Ni (30 nm)/Pt (2 nm; 6 nm)/Siep. (50 nm)/Si (001) thin film systems
за авторством: Makogon, Iu.N., та інші
Опубліковано: (2013) -
Morphology and optical properties of α-Si:Y films, obtained by electron-beam evaporation method
за авторством: Semikina, T.V.
Опубліковано: (2005)