Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics
The experimental study of intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission at the selective excitations near fundamental absorption edge as well as at the inner-shell excita-tions for binary BeO crystal and multicomponent oxide crystals Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ and La₂Be₂O₅ has been performed. The results sh...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Functional Materials |
|---|---|
| Datum: | 2012 |
| Hauptverfasser: | , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2012
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134193 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics / V. Ivanov, V. Pustovarov, A. Kikas, T. Kaambre, I. Kuusik, M. Kirm // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 60-65. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862617208632377344 |
|---|---|
| author | Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. |
| author_facet | Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. |
| citation_txt | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics / V. Ivanov, V. Pustovarov, A. Kikas, T. Kaambre, I. Kuusik, M. Kirm // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 60-65. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | The experimental study of intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission at the selective excitations near fundamental absorption edge as well as at the inner-shell excita-tions for binary BeO crystal and multicomponent oxide crystals Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ and La₂Be₂O₅ has been performed. The results show that relaxation during the time-scale of decay of short-living anion and cation excitations leads to creation of self-trapped excitons at the same low-symmetry local structural units of crystalline lattice. The applied experimental method gives an opportunity to clarify a participation of different crystalline units of complex oxides in the self-trapping of excitons.
Виконано експериментальне дослідження власної УФ-ВУФ люмінесценції і рентгенівської емісії для бінарного BeO і комплексних Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ й La₂Be₂O₅ кристалів при селективному збудженні поблизу краю фундаментального поглинання і в області поглинання остовних рівнів. Результати дослідження показують, що релаксаційні процеси, що відбуваються протягом часу життя короткоживучих як аніонних, так і катіон-них збуджень приводять до утворення автолокалізованих екситонів у тих самих низьких-симетричних локальних структурних фрагментах кристалічної гратки. Використаний експериментальний метод дозволяє встановити ступінь участі різних фрагментів кристалічної гратки у процесах автолокалізації екситонів у комплексних оксидах.
Выполнено экспериментальное исследование собственной УФ-ВУФ люминесценции и рентгеновской эмиссии для бинарного ВеО и комплексных Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ и La₂Be₂O₅ кристаллов при селективном возбуждении вблизи края фундаментального поглощения и в области поглощения остовных уровней. Результаты исследования показывают, что релаксационные процессы, происходящие в течение времени жизни короткоживущих как анионных, так и катионных возбуждений приводят к образованию автолокализованных экситонов в одних и тех же низко-симметричных локальных структурных фрагментах кристаллической решетки. Использованный экспериментальный метод позволяет установить степень участия различных фрагментов кристаллической решетки в процессах автолокализации экситонов в комплексных оксидах.
|
| first_indexed | 2025-12-07T13:11:04Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-134193 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T13:11:04Z |
| publishDate | 2012 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. 2018-06-12T17:58:07Z 2018-06-12T17:58:07Z 2012 Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics / V. Ivanov, V. Pustovarov, A. Kikas, T. Kaambre, I. Kuusik, M. Kirm // Functional Materials. — 2012. — Т. 19, № 1. — С. 60-65. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134193 The experimental study of intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission at the selective excitations near fundamental absorption edge as well as at the inner-shell excita-tions for binary BeO crystal and multicomponent oxide crystals Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ and La₂Be₂O₅ has been performed. The results show that relaxation during the time-scale of decay of short-living anion and cation excitations leads to creation of self-trapped excitons at the same low-symmetry local structural units of crystalline lattice. The applied experimental method gives an opportunity to clarify a participation of different crystalline units of complex oxides in the self-trapping of excitons. Виконано експериментальне дослідження власної УФ-ВУФ люмінесценції і рентгенівської емісії для бінарного BeO і комплексних Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ й La₂Be₂O₅ кристалів при селективному збудженні поблизу краю фундаментального поглинання і в області поглинання остовних рівнів. Результати дослідження показують, що релаксаційні процеси, що відбуваються протягом часу життя короткоживучих як аніонних, так і катіон-них збуджень приводять до утворення автолокалізованих екситонів у тих самих низьких-симетричних локальних структурних фрагментах кристалічної гратки. Використаний експериментальний метод дозволяє встановити ступінь участі різних фрагментів кристалічної гратки у процесах автолокалізації екситонів у комплексних оксидах. Выполнено экспериментальное исследование собственной УФ-ВУФ люминесценции и рентгеновской эмиссии для бинарного ВеО и комплексных Be₂SiO₄, Y₂SiO₅ и La₂Be₂O₅ кристаллов при селективном возбуждении вблизи края фундаментального поглощения и в области поглощения остовных уровней. Результаты исследования показывают, что релаксационные процессы, происходящие в течение времени жизни короткоживущих как анионных, так и катионных возбуждений приводят к образованию автолокализованных экситонов в одних и тех же низко-симметричных локальных структурных фрагментах кристаллической решетки. Использованный экспериментальный метод позволяет установить степень участия различных фрагментов кристаллической решетки в процессах автолокализации экситонов в комплексных оксидах. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Characterization and properties Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics Спектроскопія власної УФ-ВУФ люмінесценції і рентгенівської емісії у ВеО і комплексних оксидних діелектриків Article published earlier |
| spellingShingle | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics Ivanov, V. Pustovarov, V. Kikas, A. Kaambre, T. Kuusik, I. Kirm, M. Characterization and properties |
| title | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_alt | Спектроскопія власної УФ-ВУФ люмінесценції і рентгенівської емісії у ВеО і комплексних оксидних діелектриків |
| title_full | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_fullStr | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_full_unstemmed | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_short | Intrinsic UV-VUV luminescence and X-ray emission spectroscopy of BeO and multicomponent oxide dielectrics |
| title_sort | intrinsic uv-vuv luminescence and x-ray emission spectroscopy of beo and multicomponent oxide dielectrics |
| topic | Characterization and properties |
| topic_facet | Characterization and properties |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134193 |
| work_keys_str_mv | AT ivanovv intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT pustovarovv intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kikasa intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kaambret intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kuusiki intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT kirmm intrinsicuvvuvluminescenceandxrayemissionspectroscopyofbeoandmulticomponentoxidedielectrics AT ivanovv spektroskopíâvlasnoíufvuflûmínescencííírentgenívsʹkoíemísííuveoíkompleksnihoksidnihdíelektrikív AT pustovarovv spektroskopíâvlasnoíufvuflûmínescencííírentgenívsʹkoíemísííuveoíkompleksnihoksidnihdíelektrikív AT kikasa spektroskopíâvlasnoíufvuflûmínescencííírentgenívsʹkoíemísííuveoíkompleksnihoksidnihdíelektrikív AT kaambret spektroskopíâvlasnoíufvuflûmínescencííírentgenívsʹkoíemísííuveoíkompleksnihoksidnihdíelektrikív AT kuusiki spektroskopíâvlasnoíufvuflûmínescencííírentgenívsʹkoíemísííuveoíkompleksnihoksidnihdíelektrikív AT kirmm spektroskopíâvlasnoíufvuflûmínescencííírentgenívsʹkoíemísííuveoíkompleksnihoksidnihdíelektrikív |