Mikhailov, I., Baturin, A., & Fomina, L. (2010). X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector. Functional Materials.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Mikhailov, I.F, A.A Baturin, та L.P Fomina. "X-Ray Fluorescence Determination of Impurity Traces Using a Secondary Emitter and a Solid-state Detector." Functional Materials 2010.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Mikhailov, I.F, et al. "X-Ray Fluorescence Determination of Impurity Traces Using a Secondary Emitter and a Solid-state Detector." Functional Materials, 2010.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.