Mikhailov, I., Baturin, A., & Fomina, L. (2010). X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector. НТК «Інститут монокристалів» НАН України.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Mikhailov, I.F, A.A Baturin, und L.P Fomina. X-Ray Fluorescence Determination of Impurity Traces Using a Secondary Emitter and a Solid-state Detector. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2010.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Mikhailov, I.F, et al. X-Ray Fluorescence Determination of Impurity Traces Using a Secondary Emitter and a Solid-state Detector. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2010.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.