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X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Functional Materials
Datum:	2010
ISSN:	1027-5495
Hauptverfasser:	Mikhailov, I.F., Baturin, A.A., Fomina, L.P.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2010
Schlagworte:	Technology
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134203
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	X-Ray fluorescence determination of impurity traces using a secondary emitter and a solid-state detector / I.F. Mikhailov, A.A. Baturin, L.P. Fomina // Functional Materials. — 2010. — Т. 17, № 1. — С. 127-130. — Бібліогр.: 2 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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