Підвищення точності вихрострумового контролю електропровідності матеріалу та товщини діелектричного покриву оболонок

• Published in: Фізико-хімічна механіка матеріалів
• Date: 2013
• Main Authors: Тетерко, А.Я., Учанін, В.М., Гутник, В.І.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України 2013
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134209
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Підвищення точності вихрострумового контролю електропровідності матеріалу та товщини діелектричного покриву оболонок / А.Я. Тетерко, В.М. Учанін, В.І. Гутник // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2013. — Т. 49, № 6. — С. 133-139. — Бібліогр.: 10 назв. — укp.

На основі побудови двопараметрової нелінійної моделі зворотної функції перетворення системи “вихрострумовий первинний перетворювач–об’єкт контролю” запропоновано метод вимірювання питомої електричної провідності матеріалу і товщини діелектричного покриву оболонок. Метод забезпечує суттєве зменшення...