Temperature Dependence of the Shake-off Effect for Conductivity Electrons in Metals

We analyzed the emission of the conduction electrons in metals caused by any nuclear decay. The refraction of the electron wave at the crystal surface, as well as its attenuation due to scattering by phonons, are taken into account. It is shown that the energy distribution of ejected shake-off elect...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2010
Автори: Dzyublik, A.Ya., Spivak, V.Yu.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Відділення фізики і астрономії НАН України 2010
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/13433
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Temperature Dependence of the Shake-off Effect for Conductivity Electrons in Metals / A.Ya. Dzyublik, V.Yu. Spivak // Укр. фіз. журн. — 2010. — Т. 55, № 4. — С. 426-430. — Бібліогр.: 21 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:We analyzed the emission of the conduction electrons in metals caused by any nuclear decay. The refraction of the electron wave at the crystal surface, as well as its attenuation due to scattering by phonons, are taken into account. It is shown that the energy distribution of ejected shake-off electrons contains a peak at the energy of the order of 1 eV, whose intensity falls down with growing temperature. The dependence of the yield of conduction electrons on the thickness of a radioactive source is studied as well. Проаналiзовано емiсiю iз металу електронiв провiдностi, спричинену ядерним розпадом. Враховано заломлення електронної хвилi на поверхнi кристала та затухання, викликане розсiянням на фононах. Показано, що енергетичний розподiл випромiнених електронiв струсу має пiк при енергiї порядку 1 еВ, iнтенсивнiсть якого спадає зi зростанням температури. Вивчено також залежнiсть виходу електронiв провiдностi вiд товщини зразка.
ISSN:2071-0194