Photostimulated passivation of spectrometric CdZnTe detectors

A method is proposed for side surface passivation of spectrometric detectors based on Cd ₁₋ₓZn ₓTe solid solution. The influence of photostimulated passivation treatment on electrical and spectrometric properties of the detectors has been established. Considered are the processes occurring on the cr...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2008
Автори: Zagoruiko, Yu.A., Kovalenko, N.O., Fedorenko, O.A., Komar, V.K., Sulima, S.V., Dobrotvorskaya, M.V., Terzin, I.S.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2008
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134564
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Photostimulated passivation of spectrometric CdZnTe detectors // Yu.A. Zagoruiko, N.O. Kovalenko, O.A. Fedorenko, V.K. Komar, S.V. Sulima, M.V. Dobrotvorskaya, I.S. Terzin // Functional Materials. — 2008. — Т. 15, № 2. — С. 249-252. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:A method is proposed for side surface passivation of spectrometric detectors based on Cd ₁₋ₓZn ₓTe solid solution. The influence of photostimulated passivation treatment on electrical and spectrometric properties of the detectors has been established. Considered are the processes occurring on the crystal surface at the treatment and causing changes in the surface phase composition. Запропоновано спосіб пасивації бокової поверхні спектрометричних детекторів на основі твердого розчину Cd ₁₋ₓZn ₓTe. Встановлено вплив фотостимульованої пасивувальної обробки на електричні та спектрометричні властивості детекторів. Досліджено процеси, які відбуваються на поверхні кристалів при їх обробці і призводять до зміни фазового складу поверхні. Предложен способ пассивации боковой поверхности спектрометрических детекторов на основе твердого раствора Cd ₁₋ₓZn ₓTe. Установлено влияние фотостимулированной пассивирующей обработки на электрические и спектрометрические свойства детекторов. Исследованы процессы, происходящие на поверхности кристаллов при их обработке и приводящие к изменению фазового состава поверхности.
ISSN:1027-5495