Photostimulated passivation of spectrometric CdZnTe detectors

• Veröffentlicht in: Functional Materials
• Datum: 2008
• Hauptverfasser: Zagoruiko, Yu.A., Kovalenko, N.O., Fedorenko, O.A., Komar, V.K., Sulima, S.V., Dobrotvorskaya, M.V., Terzin, I.S.
• Format: Artikel
• Sprache: Englisch
• Veröffentlicht: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2008
• Schlagworte: Technology
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134564
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Photostimulated passivation of spectrometric CdZnTe detectors // Yu.A. Zagoruiko, N.O. Kovalenko, O.A. Fedorenko, V.K. Komar, S.V. Sulima, M.V. Dobrotvorskaya, I.S. Terzin // Functional Materials. — 2008. — Т. 15, № 2. — С. 249-252. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

A method is proposed for side surface passivation of spectrometric detectors based on Cd ₁₋ₓZn ₓTe solid solution. The influence of photostimulated passivation treatment on electrical and spectrometric properties of the detectors has been established. Considered are the processes occurring on the crystal surface at the treatment and causing changes in the surface phase composition. Запропоновано спосіб пасивації бокової поверхні спектрометричних детекторів на основі твердого розчину Cd ₁₋ₓZn ₓTe. Встановлено вплив фотостимульованої пасивувальної обробки на електричні та спектрометричні властивості детекторів. Досліджено процеси, які відбуваються на поверхні кристалів при їх обробці і призводять до зміни фазового складу поверхні. Предложен способ пассивации боковой поверхности спектрометрических детекторов на основе твердого раствора Cd ₁₋ₓZn ₓTe. Установлено влияние фотостимулированной пассивирующей обработки на электрические и спектрометрические свойства детекторов. Исследованы процессы, происходящие на поверхности кристаллов при их обработке и приводящие к изменению фазового состава поверхности.