On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems

Data are presented on the influence of various factors upon luminescence kinetics of scintillator crystals based on activated ZnSe, Csl, CWO and GSO. It is shown that the isovalent dopant type substantially affects the decay times т and afterglow level of ZnSe-based scintillators, and the value of т...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2004
Автори: Ryzhikov, V., Starzhinskiy, N., Seminozhenko, V., Grinyov, B., Nagornaya, L., Spasov, V., Katrunov, K., Zenya, I., Vyagin, O.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134889
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems / V. Ryzhikov, N. Starzhinskiy, V. Seminozhenko, B. Grinyov, L. Nagornaya, V. Spasov, K. Katrunov, I. Zenya, O. Vyagin // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 1. — С. 61-66. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-134889
record_format dspace
spelling Ryzhikov, V.
Starzhinskiy, N.
Seminozhenko, V.
Grinyov, B.
Nagornaya, L.
Spasov, V.
Katrunov, K.
Zenya, I.
Vyagin, O.
2018-06-14T10:47:55Z
2018-06-14T10:47:55Z
2004
On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems / V. Ryzhikov, N. Starzhinskiy, V. Seminozhenko, B. Grinyov, L. Nagornaya, V. Spasov, K. Katrunov, I. Zenya, O. Vyagin // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 1. — С. 61-66. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134889
Data are presented on the influence of various factors upon luminescence kinetics of scintillator crystals based on activated ZnSe, Csl, CWO and GSO. It is shown that the isovalent dopant type substantially affects the decay times т and afterglow level of ZnSe-based scintillators, and the value of т, depending upon the dopant concentration, can vary from 1 to 150 ps. It has been determined that scintillation kinetics of ZnSe(Te) crystals has peculiar features, being characterized by a non-monotonous decrease with a region of rising luminescence intensity at the initial stage after stopping the irradiat ion of samples. Mechanism of energy transfer has been considered for this case. Decay times of oxide scintillators (CWO, GSO) is essentially dependent both on non-stoichiometry of their composition and on the presence of admixtures. It has been shown that the afterglow level of Csl- and CWO-based scintillators depends both on the dose of preliminary X-ray irradiation and on the density of defects introduced into the crystal mechanically. The ro le of X-ray irradiation and finishing thermal treatment has been considered for optimizati on of luminescence kinetics properties of scintillation elements.
Приводятся данные о влиянии различных факторов на кинетику люминесценции кристаллов-сцинтилляторов на основе активированных кристаллов ZnSe, Csl, CWO и GSO. Показано, что тип изовалентной примеси оказывает существенное влияние на времена высвечивания т сцинтилляторов на основе ZnSe, и эта величина в зависимости от концентрации примеси может составлять 1-150 мкс. Определено, что кинетика высвечивания кристаллов ZnSe(Te) имеет особенности и характеризуется немонотонным спадом с наличием участка возрастания интенсивности люминесценции на начальном этапе после прекращения облучения образцов. Рассмотрен механизм энергопереноса данного явления. Инерционность оксидных сцинтилляторов (CWO, GSO) существенно зависит как от нестехиометричности состава, так и наличия неконтролируемых примесей. Показано, что уровень послесвечения сцинтилляторов на основе Csl и CWO зависит как от дозы предварительного рентгеновского облучения, так и от концентрации дефектов, введенных в кристалл механическим способом. Изучена роль финишной термообработки в оптимизации инерционных свойств сцинтилляционных элементов.
Наводяться дані про вплив різних факторів на кінєтику люмінесценції кристалів-сцинтиляторів на основі активованих кристалів ZnSe, Csl, CWO та GSO. Показано, що тип ізовалентної домішки впливає на час висвітлення і сцинтиляторів на основі ZnSe, і ця величина у залежності від концентрації домішки може складати 1-150 мкс. Визначено, що кінетика висвітлення кристалів ZnSe(Te) має особливості і характеризується немонотонним спадом з наявністю ділянки зростання інтенсивності люмінесценції на початковому етапі після припинення опромінювання зразків. Розглянуто механізм енергопереносу цього явища. Інерційність оксидних сцинтиляторів (CWO, GSO) суттєво залежить як від нестехіометричності сполуки, так і від неконтрольованих домішок. Показано, що рівень післясвітіння сцинтиляторів на основі Csl i CWO залежить як від дози попереднього рентгенівського опромінення, так і від концентрації дефектів, що введені у кристал механічним способом. Вивчено роль фінішної термообробки в оптимізації інерційних властивостей сцинтиляційних елементів.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
Про кінетику люмінесценції сцинтиляторів, що використовуються у рентгеноінтроскопічних системах
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
spellingShingle On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
Ryzhikov, V.
Starzhinskiy, N.
Seminozhenko, V.
Grinyov, B.
Nagornaya, L.
Spasov, V.
Katrunov, K.
Zenya, I.
Vyagin, O.
title_short On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
title_full On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
title_fullStr On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
title_full_unstemmed On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems
title_sort on luminescence kinetics of scintillators used in x-ray introscopy systems
author Ryzhikov, V.
Starzhinskiy, N.
Seminozhenko, V.
Grinyov, B.
Nagornaya, L.
Spasov, V.
Katrunov, K.
Zenya, I.
Vyagin, O.
author_facet Ryzhikov, V.
Starzhinskiy, N.
Seminozhenko, V.
Grinyov, B.
Nagornaya, L.
Spasov, V.
Katrunov, K.
Zenya, I.
Vyagin, O.
publishDate 2004
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Про кінетику люмінесценції сцинтиляторів, що використовуються у рентгеноінтроскопічних системах
description Data are presented on the influence of various factors upon luminescence kinetics of scintillator crystals based on activated ZnSe, Csl, CWO and GSO. It is shown that the isovalent dopant type substantially affects the decay times т and afterglow level of ZnSe-based scintillators, and the value of т, depending upon the dopant concentration, can vary from 1 to 150 ps. It has been determined that scintillation kinetics of ZnSe(Te) crystals has peculiar features, being characterized by a non-monotonous decrease with a region of rising luminescence intensity at the initial stage after stopping the irradiat ion of samples. Mechanism of energy transfer has been considered for this case. Decay times of oxide scintillators (CWO, GSO) is essentially dependent both on non-stoichiometry of their composition and on the presence of admixtures. It has been shown that the afterglow level of Csl- and CWO-based scintillators depends both on the dose of preliminary X-ray irradiation and on the density of defects introduced into the crystal mechanically. The ro le of X-ray irradiation and finishing thermal treatment has been considered for optimizati on of luminescence kinetics properties of scintillation elements. Приводятся данные о влиянии различных факторов на кинетику люминесценции кристаллов-сцинтилляторов на основе активированных кристаллов ZnSe, Csl, CWO и GSO. Показано, что тип изовалентной примеси оказывает существенное влияние на времена высвечивания т сцинтилляторов на основе ZnSe, и эта величина в зависимости от концентрации примеси может составлять 1-150 мкс. Определено, что кинетика высвечивания кристаллов ZnSe(Te) имеет особенности и характеризуется немонотонным спадом с наличием участка возрастания интенсивности люминесценции на начальном этапе после прекращения облучения образцов. Рассмотрен механизм энергопереноса данного явления. Инерционность оксидных сцинтилляторов (CWO, GSO) существенно зависит как от нестехиометричности состава, так и наличия неконтролируемых примесей. Показано, что уровень послесвечения сцинтилляторов на основе Csl и CWO зависит как от дозы предварительного рентгеновского облучения, так и от концентрации дефектов, введенных в кристалл механическим способом. Изучена роль финишной термообработки в оптимизации инерционных свойств сцинтилляционных элементов. Наводяться дані про вплив різних факторів на кінєтику люмінесценції кристалів-сцинтиляторів на основі активованих кристалів ZnSe, Csl, CWO та GSO. Показано, що тип ізовалентної домішки впливає на час висвітлення і сцинтиляторів на основі ZnSe, і ця величина у залежності від концентрації домішки може складати 1-150 мкс. Визначено, що кінетика висвітлення кристалів ZnSe(Te) має особливості і характеризується немонотонним спадом з наявністю ділянки зростання інтенсивності люмінесценції на початковому етапі після припинення опромінювання зразків. Розглянуто механізм енергопереносу цього явища. Інерційність оксидних сцинтиляторів (CWO, GSO) суттєво залежить як від нестехіометричності сполуки, так і від неконтрольованих домішок. Показано, що рівень післясвітіння сцинтиляторів на основі Csl i CWO залежить як від дози попереднього рентгенівського опромінення, так і від концентрації дефектів, що введені у кристал механічним способом. Вивчено роль фінішної термообробки в оптимізації інерційних властивостей сцинтиляційних елементів.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/134889
citation_txt On luminescence kinetics of scintillators used in X-ray introscopy systems / V. Ryzhikov, N. Starzhinskiy, V. Seminozhenko, B. Grinyov, L. Nagornaya, V. Spasov, K. Katrunov, I. Zenya, O. Vyagin // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 1. — С. 61-66. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT ryzhikovv onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT starzhinskiyn onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT seminozhenkov onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT grinyovb onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT nagornayal onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT spasovv onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT katrunovk onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT zenyai onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT vyagino onluminescencekineticsofscintillatorsusedinxrayintroscopysystems
AT ryzhikovv prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT starzhinskiyn prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT seminozhenkov prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT grinyovb prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT nagornayal prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT spasovv prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT katrunovk prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT zenyai prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
AT vyagino prokínetikulûmínescencííscintilâtorívŝovikoristovuûtʹsâurentgenoíntroskopíčnihsistemah
first_indexed 2025-12-07T16:45:10Z
last_indexed 2025-12-07T16:45:10Z
_version_ 1850868666638270464