Элементный анализ аморфных углеродных пленок
The elemental analysis of amorphous carbon film produce in focus on the diamond-like type by the low temperature chemical vapour deposition and physical vapour deposition have been presented. The amorphous carbon films proposed as protective, wear-resistive, anti-reflective, chemical inert and bioco...
Saved in:
| Published in: | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
|---|---|
| Date: | 2007 |
| Main Author: | Куцай, А.М. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2007
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135090 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Элементный анализ аморфных углеродных пленок / А.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2007. — Вип. 10. — С. 270-273. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
-
Физико-механические характаристики аморфных углеродных пленок, полученных из паров бензола
by: Грицкевич, Р.Н., et al.
Published: (2008) -
Сравнительное тестирование механических характеристик наноалмазных пленок
by: Куцай, А.М.
Published: (2007) -
Структурно-морфологические характеристики строения и элементный состав композиционных компактов кубонита и порошков из них, полученных методом физико-технического синтеза
by: Новиков, Н.В., et al.
Published: (2008) -
Особливості діагностики оптичних характеристик монокристалів синтетичних алмазів, вирощених методом температурного градієнта для створення еталонів теплопровідності
by: Івахненко, С.О., et al.
Published: (2007) -
Рентгеноструктурный анализ детонационных наноалмазов с использованием синхротронного излучения: определение параметров кристаллической решетки, размера нанокристаллов и компьютерное моделирование структуры
by: Юрьев, Г.С., et al.
Published: (2008)