Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами
Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорга...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Фізико-хімічна механіка матеріалів |
|---|---|
| Дата: | 2015 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Українська |
| Опубліковано: |
Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України
2015
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135159 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862545011341524992 |
|---|---|
| author | Рудяк, Ю.А. Підгурський, М.І. |
| author_facet | Рудяк, Ю.А. Підгурський, М.І. |
| citation_txt | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Фізико-хімічна механіка матеріалів |
| description | Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорганічному склі розвинуто поляризаційно-оптичний метод для величин оптичної анізотропії, менших за 1l, де l – довжина хвилі зондувального випромінювання. Для оцінки граничного стану триплексів, елементами яких є органічне і неорганічне скло та склеювальний шар, запропоновано фізико-механічний критерій граничного стану –
критерій тензора діелектричної проникності. Проаналізовано міцність чотирьох варіантів триплексів (гомогенний без та з обрамленням, гетерогенний без та з обрамленням) і вибрано оптимальну конструкцію – гетерогенний триплекс без обрамлення.
Комплексно исследованы напряженно-деформированное и предельное
состояния многослойных структур (гомогенных и гетерогенных триплексов) с трещиноподобными дефектами в их элементах в диапазоне 213…293 K. Для эффективного определения коэффициентов интенсивности напряжений возле вершин трещин в органическом и неорганическом стекле развит поляризационно-оптический метод для величин оптической анизотропи, меньших за 1l, где l – длина волны зондирующего излучения. Для оценки предельного состояния триплексов, элементами которых является органическое и неорганическое стекло и склеивающий слой, предложен физико-механический критерий
предельного состояния – критерий тензора диэлектрической проницаемости. Проанализирована прочность четырех вариантов триплексов (гомогенный без и с обрамлением, гетерогенный без и с обрамлением) и выбрана оптимальная конструкция – гетерогенный триплекс без обрамления.
The stress-strain state and limiting state of multilayer structures (homogeneous
and heterogeneous triplex) with crack-like defects in their elements in the temperature
range 213…293 K are studied in a complex. In order to determine effectively the values of the
stress intensity factors (SIF) at the crack tips in organic and inorganic glass, the polarizationoptical
method was developed for the cases of investigation of small size (to 1l, where l is
wavelength of the probe radiation) patterns of optical anisotropy. To assess the limiting state of
the triplex, with component parts (elements) that are organic and inorganic glass and cementing
the layer, the physicomechanical criterion of the limiting state – the criterion of tensor of dielectric
permeability (TDP) is proposed. As a result of the studies four options for constructive solutions
of triplex (homogeneous triplex without frame and with frame, heterogeneous triplex
without frame and with frame) are analyzed in terms of the strength and the optimum constructive
design – heterogeneous triplex without frame – was defined.
|
| first_indexed | 2025-11-25T04:34:57Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-135159 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 0430-6252 |
| language | Ukrainian |
| last_indexed | 2025-11-25T04:34:57Z |
| publishDate | 2015 |
| publisher | Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Рудяк, Ю.А. Підгурський, М.І. 2018-06-14T16:16:39Z 2018-06-14T16:16:39Z 2015 Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Ю.А. Рудяк, М.І. Підгурський // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2015. — Т. 51, № 2. — С. 68-71. — Бібліогр.: 6 назв. — укp. 0430-6252 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135159 Комплексно досліджено напружено-деформований та граничний стани багатошарових структур (гомогенних та гетерогенних триплексів) з тріщиноподібними дефектами в їх елементах у діапазоні 213…293 K. Для ефективного визначення коефіцієнтів інтенсивності напружень біля вершин тріщин в органічному та неорганічному склі розвинуто поляризаційно-оптичний метод для величин оптичної анізотропії, менших за 1l, де l – довжина хвилі зондувального випромінювання. Для оцінки граничного стану триплексів, елементами яких є органічне і неорганічне скло та склеювальний шар, запропоновано фізико-механічний критерій граничного стану –
 критерій тензора діелектричної проникності. Проаналізовано міцність чотирьох варіантів триплексів (гомогенний без та з обрамленням, гетерогенний без та з обрамленням) і вибрано оптимальну конструкцію – гетерогенний триплекс без обрамлення. Комплексно исследованы напряженно-деформированное и предельное
 состояния многослойных структур (гомогенных и гетерогенных триплексов) с трещиноподобными дефектами в их элементах в диапазоне 213…293 K. Для эффективного определения коэффициентов интенсивности напряжений возле вершин трещин в органическом и неорганическом стекле развит поляризационно-оптический метод для величин оптической анизотропи, меньших за 1l, где l – длина волны зондирующего излучения. Для оценки предельного состояния триплексов, элементами которых является органическое и неорганическое стекло и склеивающий слой, предложен физико-механический критерий
 предельного состояния – критерий тензора диэлектрической проницаемости. Проанализирована прочность четырех вариантов триплексов (гомогенный без и с обрамлением, гетерогенный без и с обрамлением) и выбрана оптимальная конструкция – гетерогенный триплекс без обрамления. The stress-strain state and limiting state of multilayer structures (homogeneous
 and heterogeneous triplex) with crack-like defects in their elements in the temperature
 range 213…293 K are studied in a complex. In order to determine effectively the values of the
 stress intensity factors (SIF) at the crack tips in organic and inorganic glass, the polarizationoptical
 method was developed for the cases of investigation of small size (to 1l, where l is
 wavelength of the probe radiation) patterns of optical anisotropy. To assess the limiting state of
 the triplex, with component parts (elements) that are organic and inorganic glass and cementing
 the layer, the physicomechanical criterion of the limiting state – the criterion of tensor of dielectric
 permeability (TDP) is proposed. As a result of the studies four options for constructive solutions
 of triplex (homogeneous triplex without frame and with frame, heterogeneous triplex
 without frame and with frame) are analyzed in terms of the strength and the optimum constructive
 design – heterogeneous triplex without frame – was defined. uk Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України Фізико-хімічна механіка матеріалів Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами Исследование прочности многослойных структур из прозрачных диэлектриков оптическими методами Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods Article published earlier |
| spellingShingle | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами Рудяк, Ю.А. Підгурський, М.І. |
| title | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами |
| title_alt | Исследование прочности многослойных структур из прозрачных диэлектриков оптическими методами Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods |
| title_full | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами |
| title_fullStr | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами |
| title_full_unstemmed | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами |
| title_short | Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами |
| title_sort | дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135159 |
| work_keys_str_mv | AT rudâkûa doslídžennâmícnostíbagatošarovihstrukturízprozorihdíelektrikívoptičnimimetodami AT pídgursʹkiimí doslídžennâmícnostíbagatošarovihstrukturízprozorihdíelektrikívoptičnimimetodami AT rudâkûa issledovaniepročnostimnogosloinyhstrukturizprozračnyhdiélektrikovoptičeskimimetodami AT pídgursʹkiimí issledovaniepročnostimnogosloinyhstrukturizprozračnyhdiélektrikovoptičeskimimetodami AT rudâkûa investigationofstrengthofmultilayerstructuresoftransparentdielectricsbyopticalmethods AT pídgursʹkiimí investigationofstrengthofmultilayerstructuresoftransparentdielectricsbyopticalmethods |