Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis

A procedure is proposed to process complex XPS spectra attained using a home-made X-ray photoelectron spectrometer without monochromatization of X-rays. The method includes convolution and fitting applied to Fourier transform of experimental spectrum. This spectrum is synthesized as a convolution of...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2004
Автори: Kazarinov, Yu.G., Gritsyna, V.T., Sidorenko, Yu.V.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135252
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis / Yu.G. Kazarinov, V.T. Gritsyna, Yu.V. Sidorenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 1. — С. 131-135. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862673077844836352
author Kazarinov, Yu.G.
Gritsyna, V.T.
Sidorenko, Yu.V.
author_facet Kazarinov, Yu.G.
Gritsyna, V.T.
Sidorenko, Yu.V.
citation_txt Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis / Yu.G. Kazarinov, V.T. Gritsyna, Yu.V. Sidorenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 1. — С. 131-135. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Functional Materials
description A procedure is proposed to process complex XPS spectra attained using a home-made X-ray photoelectron spectrometer without monochromatization of X-rays. The method includes convolution and fitting applied to Fourier transform of experimental spectrum. This spectrum is synthesized as a convolution of three functions related to Fourier transforms of natural lines, of electron analyzer instrumental function, and of exciting X-ray line shape. The validity of method has been checked by processing spectrum of gold in the region of valence band. The method has been applied to analyze composition of oxidized aluminum surface and surface of complex aluminum-magnesium oxide. Предложен метод для обработки сложных XPS спектров, полученных с использованием рентгеновского фотоэлектронного спектрометра собственного изготовления, без монохроматизации рентгеновского излучения. Метод включает свертку и подгонку, применяемые к Фурье-образу экспериментального спетра. Этот спектр синтезируется как свертка трех функций, соответствующих Фурье-образам естественных линий, аппаратной функции анализатора электронов и формы возбуждающей линии рентгеновского излучения. Пригодность метода проверена путем обработки спектра валентной зоны золота. Метод применен для анализа состава окисленной поверхности алюминия и поверхности сложного алюминиево-магниевого оксида. Запропоновано метод для обробки складних XPS спєктрів, одержаних з використанням спектрометра рентгенівського фотоелектронного спектрометра власного виготовлення, без монохроматизації рентгенівського випромінювання. Метод включає згортку та підгонку, які застосовуються до Фур’є-образу експериментального спектру. Цей спектр синтезується як згортка трьох функцій, що відповідають Фур’є-образам природних линий, апаратній функції аналізатора електронів та форми збуджувальної лінії рентгенівського випромінювання. Придатність методу перевірено шляхом обробки спектра золота в області валентної зони. Метод застосований для аналізу складу окисленої поверхні алюмінію та поверхні складного алюмінієво-магнієвого оксиду.
first_indexed 2025-12-07T15:38:29Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-135252
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1027-5495
language English
last_indexed 2025-12-07T15:38:29Z
publishDate 2004
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
record_format dspace
spelling Kazarinov, Yu.G.
Gritsyna, V.T.
Sidorenko, Yu.V.
2018-06-14T17:10:34Z
2018-06-14T17:10:34Z
2004
Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis / Yu.G. Kazarinov, V.T. Gritsyna, Yu.V. Sidorenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 1. — С. 131-135. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135252
A procedure is proposed to process complex XPS spectra attained using a home-made X-ray photoelectron spectrometer without monochromatization of X-rays. The method includes convolution and fitting applied to Fourier transform of experimental spectrum. This spectrum is synthesized as a convolution of three functions related to Fourier transforms of natural lines, of electron analyzer instrumental function, and of exciting X-ray line shape. The validity of method has been checked by processing spectrum of gold in the region of valence band. The method has been applied to analyze composition of oxidized aluminum surface and surface of complex aluminum-magnesium oxide.
Предложен метод для обработки сложных XPS спектров, полученных с использованием рентгеновского фотоэлектронного спектрометра собственного изготовления, без монохроматизации рентгеновского излучения. Метод включает свертку и подгонку, применяемые к Фурье-образу экспериментального спетра. Этот спектр синтезируется как свертка трех функций, соответствующих Фурье-образам естественных линий, аппаратной функции анализатора электронов и формы возбуждающей линии рентгеновского излучения. Пригодность метода проверена путем обработки спектра валентной зоны золота. Метод применен для анализа состава окисленной поверхности алюминия и поверхности сложного алюминиево-магниевого оксида.
Запропоновано метод для обробки складних XPS спєктрів, одержаних з використанням спектрометра рентгенівського фотоелектронного спектрометра власного виготовлення, без монохроматизації рентгенівського випромінювання. Метод включає згортку та підгонку, які застосовуються до Фур’є-образу експериментального спектру. Цей спектр синтезується як згортка трьох функцій, що відповідають Фур’є-образам природних линий, апаратній функції аналізатора електронів та форми збуджувальної лінії рентгенівського випромінювання. Придатність методу перевірено шляхом обробки спектра золота в області валентної зони. Метод застосований для аналізу складу окисленої поверхні алюмінію та поверхні складного алюмінієво-магнієвого оксиду.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
Обробка фотоелектронних спектрів для поглибленого хімічного аналізу
Article
published earlier
spellingShingle Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
Kazarinov, Yu.G.
Gritsyna, V.T.
Sidorenko, Yu.V.
title Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
title_alt Обробка фотоелектронних спектрів для поглибленого хімічного аналізу
title_full Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
title_fullStr Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
title_full_unstemmed Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
title_short Processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
title_sort processing of photoelectron spectra for advanced chemical analysis
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135252
work_keys_str_mv AT kazarinovyug processingofphotoelectronspectraforadvancedchemicalanalysis
AT gritsynavt processingofphotoelectronspectraforadvancedchemicalanalysis
AT sidorenkoyuv processingofphotoelectronspectraforadvancedchemicalanalysis
AT kazarinovyug obrobkafotoelektronnihspektrívdlâpogliblenogohímíčnogoanalízu
AT gritsynavt obrobkafotoelektronnihspektrívdlâpogliblenogohímíčnogoanalízu
AT sidorenkoyuv obrobkafotoelektronnihspektrívdlâpogliblenogohímíčnogoanalízu