XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

• Veröffentlicht in: Functional Materials
• Datum: 2011
• Hauptverfasser: Tkachenko, V.F., Lukienko, O.A., Budnikov, A.T., Vovk, E.A., Krivonogov, S.I., Dan`ko, A.Ya.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2011
• Schlagworte: Characterization and properties
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135460
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation / V.F. Tkachenko, O.A. Lukienko, A.T. Budnikov, E.A. Vovk, S.I. Krivonogov, A.Ya. Dan`ko // Functional Materials. — 2011. — Т. 18, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.