Розв’язування методами інтегральних рівнянь задач антиплоского деформування тіл із тонкими стрічковими включеннями. ІІ. Аналіз концентрації та інтенсивності напружень

• Published in: Фізико-хімічна механіка матеріалів
• Date: 2012
• Main Authors: Пастернак, Я.М., Сулим, Г.Т.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Фізико-механічний інститут ім. Г.В. Карпенка НАН України 2012
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/135803
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Розв’язування методами інтегральних рівнянь задач антиплоского деформування тіл із тонкими стрічковими включеннями. ІІ. Аналіз концентрації та інтенсивності напружень / Я.М. Пастернак, Г.Т. Сулим // Фізико-хімічна механіка матеріалів. — 2012. — Т. 48, № 6. — С. 86-91. — Бібліогр.: 8 назв. — укp.

З суто фізичних міркувань отримано зв’язок напружень у вершині дефекту із коефіцієнтами при кореневій особливості поля напружень – узагальненими коефіцієнтами інтенсивності напружень (КІН). Побудовано апроксимаційні формули для обчислення узагальнених КІН. Порівнянням результатів розрахунків конкретних задач запропонованим та прямим підходами підтверджено ефективність використання розробленого методу. Исходя из чисто физических соображений, получено связь напряжений в вершине дефекта с коэффициентами при корневой особенности поля напряжений – обобщенными коэффициентами интенсивности напряжений (КИН). Построено аппроксимационные формулы определения обобщенных КИН. Путем сравнения результатов расчетов конкретных задач предложенным и прямым подходами доказана эффективность первого. Basing on the solely physical considerations the relationship between stresses at the defect tip with the factors near the square root singularity of the stress field – the generalized stress intensity factors – is obtained. The approximation formulas are adopted for determination of the generalized stress intensity factors. The comparison of results obtained for certain problems by the proposed and direct technique shows high efficiency of the proposed approach.