Лінійне спектральне картографування полікристалічних алмазних плівок
Наведено результати топографування просторового розподілу інтенсивності коливальних смуг різнотипових алмазних полікристалічних плівок, отриманих методом хімічного осадження з газової фази. Розглянуто практичні питання використання такої методики для аналізу просторової структурної досконалості т...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения |
|---|---|
| Дата: | 2012 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2012
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136087 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Лінійне спектральне картографування полікристалічних алмазних плівок / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012. — Вип. 15. — С. 370-376. — Бібліогр.: 3 назв. — укр. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Наведено результати топографування просторового розподілу інтенсивності
коливальних смуг різнотипових алмазних полікристалічних плівок, отриманих методом
хімічного осадження з газової фази. Розглянуто практичні питання використання такої
методики для аналізу просторової структурної досконалості та домішкового складу
досліджуваних алмазних матеріалів.
Приведены результаты топографирования пространственного распределения
интенсивности колебательных полос разнотипных алмазных поликристаллических пленок,
полученных методом химического осаждения из газовой фазы. Рассмотрены практические
вопросы использования такой методики для анализа пространственного структурного
совершенства и примесного состава исследуемых алмазных материалов.
The topography results of the spatial distribution of the vibration band intensities have been
presented for different types of the diamond polycrystalline films grown by chemical vapor
deposition. The practical issues of using such techniques for the spatial analysis of the structural
perfection and the impurity composition of the investigated diamond materials have been
considered.
|
|---|---|
| ISSN: | 2223-3938 |