Лінійне спектральне картографування полікристалічних алмазних плівок

Наведено результати топографування просторового розподілу інтенсивності коливальних смуг різнотипових алмазних полікристалічних плівок, отриманих методом хімічного осадження з газової фази. Розглянуто практичні питання використання такої методики для аналізу просторової структурної досконалості т...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения
Дата:2012
Автор: Куцай, О.М.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2012
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136087
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Лінійне спектральне картографування полікристалічних алмазних плівок / О.М. Куцай // Породоразрушающий и металлообрабатывающий инструмент – техника и технология его изготовления и применения: Сб. науч. тр. — К.: ІНМ ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012. — Вип. 15. — С. 370-376. — Бібліогр.: 3 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Наведено результати топографування просторового розподілу інтенсивності коливальних смуг різнотипових алмазних полікристалічних плівок, отриманих методом хімічного осадження з газової фази. Розглянуто практичні питання використання такої методики для аналізу просторової структурної досконалості та домішкового складу досліджуваних алмазних матеріалів. Приведены результаты топографирования пространственного распределения интенсивности колебательных полос разнотипных алмазных поликристаллических пленок, полученных методом химического осаждения из газовой фазы. Рассмотрены практические вопросы использования такой методики для анализа пространственного структурного совершенства и примесного состава исследуемых алмазных материалов. The topography results of the spatial distribution of the vibration band intensities have been presented for different types of the diamond polycrystalline films grown by chemical vapor deposition. The practical issues of using such techniques for the spatial analysis of the structural perfection and the impurity composition of the investigated diamond materials have been considered.
ISSN:2223-3938