The impact of impulse electromagnetic fields on personal computer and components

The features of the test stand for studying an impact of ultra-short impulse electromagnetic fields are described. The tests results of a personal computer and its components are presented and the conditions for functional upset and failure of the studied objects are discussed. Описуються особливост...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2017
Автори: Zagvozdkin, B.V., Karelin, S.Yu., Magda, I.I., Mukhin, V.S., Shapoval, I.M.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2017
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136094
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:The impact of impulse electromagnetic fields on personal computer and components / B.V. Zagvozdkin, S.Yu. Karelin, I.I. Magda, V.S. Mukhin, I.M. Shapoval // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 3. — С. 77-84. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The features of the test stand for studying an impact of ultra-short impulse electromagnetic fields are described. The tests results of a personal computer and its components are presented and the conditions for functional upset and failure of the studied objects are discussed. Описуються особливості випробного стенда для дослідження дії імпульсних електромагнітних полів замалої тривалості. Приводяться результати тестів персонального комп'ютера і його компонентів, та обговорюються умови функціональних збоїв і виходу зі строю об'єктів, що досліджуються. Описываются особенности испытательного стенда для исследования действия импульсных электромагнитных полей сверхкороткой длительности. Приводятся результаты тестов персонального компьютера и его компонентов, и обсуждаются условия функциональных сбоев и выхода из строя исследуемых объектов.
ISSN:1562-6016