The impact of impulse electromagnetic fields on personal computer and components

The features of the test stand for studying an impact of ultra-short impulse electromagnetic fields are described. The tests results of a personal computer and its components are presented and the conditions for functional upset and failure of the studied objects are discussed. Описуються особливост...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2017
Main Authors: Zagvozdkin, B.V., Karelin, S.Yu., Magda, I.I., Mukhin, V.S., Shapoval, I.M.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2017
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136094
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:The impact of impulse electromagnetic fields on personal computer and components / B.V. Zagvozdkin, S.Yu. Karelin, I.I. Magda, V.S. Mukhin, I.M. Shapoval // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 3. — С. 77-84. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:The features of the test stand for studying an impact of ultra-short impulse electromagnetic fields are described. The tests results of a personal computer and its components are presented and the conditions for functional upset and failure of the studied objects are discussed. Описуються особливості випробного стенда для дослідження дії імпульсних електромагнітних полів замалої тривалості. Приводяться результати тестів персонального комп'ютера і його компонентів, та обговорюються умови функціональних збоїв і виходу зі строю об'єктів, що досліджуються. Описываются особенности испытательного стенда для исследования действия импульсных электромагнитных полей сверхкороткой длительности. Приводятся результаты тестов персонального компьютера и его компонентов, и обсуждаются условия функциональных сбоев и выхода из строя исследуемых объектов.
ISSN:1562-6016