Влияние отжига на эмиссию вторичных частиц с поверхности циркониевого сплава

• Veröffentlicht in: Вопросы атомной науки и техники
• Datum: 2017
• Hauptverfasser: Афанасьева, И.А., Бобков, В.В., Грицына, В.В., Ковтун, К.В., Коппе, В.Т., Литвинов, В.А., Оксенюк, И.И., Ховрич, С.В., Шевченко, Д.И.
• Format: Artikel
• Sprache: Russisch
• Veröffentlicht: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2017
• Schlagworte: Ядерная физика и элементарные частицы
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136146
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Влияние отжига на эмиссию вторичных частиц с поверхности циркониевого сплава / И.А. Афанасьева, В.В. Бобков, В.В. Грицына, К.В. Ковтун, В.Т. Коппе, В.А. Литвинов, И.И. Оксенюк, С.В. Ховрич, Д.И. Шевченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2017. — № 4. — С. 39-46. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.

Эмиссия вторичных ионов и возбужденных частиц при ионной бомбардировке исследована методами вторичной ионной масс-спектрометрии (ВИМС) и ионно-фотонной спектрометрии (ИФС). Установлено, что зависимость выхода вторичных частиц от дозы облучения (вплоть до 3,5·10¹⁷ ион·см⁻²) имеет различный вид для ча...