Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀

• Дата: 1999
• Автори: Пугачев, А.Т., Чуракова, Н.П., Горбенко, Н.И., Саадли, Х., Солодовник, А.А.
• Мова: Russian
• Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1999
• Назва видання: Физика низких температур
• Теми: Динамика кристаллической решетки
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136223
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Структура и параметр решетки тонких пленок C₆₀ / А.Т. Пугачев, Н.П. Чуракова, Н.И. Горбенко, Х. Саадли, А.А. Солодовник // Физика низких температур. — 1999. — Т. 25, № 3. — С. 298-304. — Бібліогр.: 15 назв. — рос.

В интервале температур 300-5К электроннооптическими методами исследована структура и параметр решетки пленок фуллерита C₆₀, сконденсированных в вакууме на поверхность (100) NaCl при температурах подложки 290-400К. Пpи комнатной темпеpатуpе пленки фуллерита имели ГЦК решетку. При изменении температуры конденсации структура пленок изменялась от эпитаксиальной с ориентацией (111) до неориентированной предельно нанодисперсной с размером зерна 4-5нм. Определены кристаллографические условия сопряжения поверхности (100) NaCl и эпитаксиальных пленок фуллерита C₆₀, установлен четырехпозиционный характер их структуры. Температура перехода ГЦК-ПК и наблюдаемая при этом величина скачка параметра решетки пленок близки к аналогичным данным массивного фуллерита. Из температурной зависимости параметра решетки в интервале 100-260К определен средний коэффициент линейного расширения пленок a . Увеличение a при малых толщинах является размерным эффектом, который обусловлен существенным влиянием поверхности. По данным проведенных исследований предложен механизм формирования структуры конденсированных пленок фуллерита C₆₀.