Fringe effects in large-area scintillation detectors
The light reflection conditions near the crystal fringes are known to differ from those in the sample middle part due to additional reflections from the butt surfaces. Such effects may be insignificant (as, for example, in most standard spectrometric detectors) but may be of importance in image visu...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Functional Materials |
|---|---|
| Datum: | 2009 |
| Hauptverfasser: | , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2009
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136605 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Fringe effects in large-area scintillation detectors // A.Yu. Boyarintsev, A.V. Gektin, V.P. Gavrilyuk, V.I. Koshel, V.Yu. Pedash // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 82-85. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862745808643817472 |
|---|---|
| author | Boyarintsev, A.Yu. Gektin, A.V. Gavrilyuk, V.P. Koshel, V.I. Pedash, V.Yu. |
| author_facet | Boyarintsev, A.Yu. Gektin, A.V. Gavrilyuk, V.P. Koshel, V.I. Pedash, V.Yu. |
| citation_txt | Fringe effects in large-area scintillation detectors // A.Yu. Boyarintsev, A.V. Gektin, V.P. Gavrilyuk, V.I. Koshel, V.Yu. Pedash // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 82-85. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | The light reflection conditions near the crystal fringes are known to differ from those in the sample middle part due to additional reflections from the butt surfaces. Such effects may be insignificant (as, for example, in most standard spectrometric detectors) but may be of importance in image visualization systems (as gamma cameras). In this work, the light yield inhomogeneities near the butt surfaces of gamma camera detectors are studied. Seven types of the crystal surface treatment and the reflecting coating materials are considered.
Відомо, що поблизу країв кристала умови віддзеркалення світла відрізняються від середньої частини зразка завдяки існуванню додаткових віддзеркалень світла від торцевих поверхонь. Такі ефекти можуть бути несуттєвими (як, наприклад, для більшості стандартних спектрометричних детекторів), але у випадку систем візуалізації зображень (гамма камера, наприклад) можуть відігравати суттєву роль. У роботі досліджуються неоднорідності світлового виходу поблизу торцевих поверхонь детекторів для гама камер. Розглядаються сім варіантів обробки поверхні кристалау та вибору матеріалу світловідбиваючих покриттів.
Известно, что вблизи краев кристалла условия отражения света отличаются от таковых в средней части образца из-за дополнительных отражений света от торцевых поверхностей. Такого рода эффекты могут быть несущественными (как, например, для большинства стандартных спектроскопических детекторов), но в случае систем для визуализации изображений (гамма камера, например) могут играть существенную роль. В работе исследуются неоднородности светового выхода вблизи торцевых поверхностей детекторов для гамма камер. Рассматриваются семь вариантов обработки поверхности кристалла и выбора материала светоотражающих покрытий.
|
| first_indexed | 2025-12-07T20:42:34Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-136605 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T20:42:34Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Boyarintsev, A.Yu. Gektin, A.V. Gavrilyuk, V.P. Koshel, V.I. Pedash, V.Yu. 2018-06-16T14:26:21Z 2018-06-16T14:26:21Z 2009 Fringe effects in large-area scintillation detectors // A.Yu. Boyarintsev, A.V. Gektin, V.P. Gavrilyuk, V.I. Koshel, V.Yu. Pedash // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 82-85. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136605 The light reflection conditions near the crystal fringes are known to differ from those in the sample middle part due to additional reflections from the butt surfaces. Such effects may be insignificant (as, for example, in most standard spectrometric detectors) but may be of importance in image visualization systems (as gamma cameras). In this work, the light yield inhomogeneities near the butt surfaces of gamma camera detectors are studied. Seven types of the crystal surface treatment and the reflecting coating materials are considered. Відомо, що поблизу країв кристала умови віддзеркалення світла відрізняються від середньої частини зразка завдяки існуванню додаткових віддзеркалень світла від торцевих поверхонь. Такі ефекти можуть бути несуттєвими (як, наприклад, для більшості стандартних спектрометричних детекторів), але у випадку систем візуалізації зображень (гамма камера, наприклад) можуть відігравати суттєву роль. У роботі досліджуються неоднорідності світлового виходу поблизу торцевих поверхонь детекторів для гама камер. Розглядаються сім варіантів обробки поверхні кристалау та вибору матеріалу світловідбиваючих покриттів. Известно, что вблизи краев кристалла условия отражения света отличаются от таковых в средней части образца из-за дополнительных отражений света от торцевых поверхностей. Такого рода эффекты могут быть несущественными (как, например, для большинства стандартных спектроскопических детекторов), но в случае систем для визуализации изображений (гамма камера, например) могут играть существенную роль. В работе исследуются неоднородности светового выхода вблизи торцевых поверхностей детекторов для гамма камер. Рассматриваются семь вариантов обработки поверхности кристалла и выбора материала светоотражающих покрытий. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Technology Fringe effects in large-area scintillation detectors Крайові ефекти у сцинтиляційних детекторах великої площини Article published earlier |
| spellingShingle | Fringe effects in large-area scintillation detectors Boyarintsev, A.Yu. Gektin, A.V. Gavrilyuk, V.P. Koshel, V.I. Pedash, V.Yu. Technology |
| title | Fringe effects in large-area scintillation detectors |
| title_alt | Крайові ефекти у сцинтиляційних детекторах великої площини |
| title_full | Fringe effects in large-area scintillation detectors |
| title_fullStr | Fringe effects in large-area scintillation detectors |
| title_full_unstemmed | Fringe effects in large-area scintillation detectors |
| title_short | Fringe effects in large-area scintillation detectors |
| title_sort | fringe effects in large-area scintillation detectors |
| topic | Technology |
| topic_facet | Technology |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136605 |
| work_keys_str_mv | AT boyarintsevayu fringeeffectsinlargeareascintillationdetectors AT gektinav fringeeffectsinlargeareascintillationdetectors AT gavrilyukvp fringeeffectsinlargeareascintillationdetectors AT koshelvi fringeeffectsinlargeareascintillationdetectors AT pedashvyu fringeeffectsinlargeareascintillationdetectors AT boyarintsevayu kraiovíefektiuscintilâcíinihdetektorahvelikoíploŝini AT gektinav kraiovíefektiuscintilâcíinihdetektorahvelikoíploŝini AT gavrilyukvp kraiovíefektiuscintilâcíinihdetektorahvelikoíploŝini AT koshelvi kraiovíefektiuscintilâcíinihdetektorahvelikoíploŝini AT pedashvyu kraiovíefektiuscintilâcíinihdetektorahvelikoíploŝini |